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AIoT・情報機器への多周波電磁照射による情報注入攻撃の現象解明と対策手法の開拓

研究課題

研究課題/領域番号 25K15117
研究種目

基盤研究(C)

配分区分基金
応募区分一般
審査区分 小区分60070:情報セキュリティ関連
研究機関福知山公立大学

研究代表者

衣川 昌宏  福知山公立大学, 情報学部, 准教授 (00710691)

研究分担者 林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)
研究期間 (年度) 2025-04-01 – 2028-03-31
研究課題ステータス 交付 (2025年度)
配分額 *注記
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2027年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2026年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2025年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
キーワードハードウェアセキュリティ / エッジAI / 電磁波セキュリティ / 情報セキュリティ / 意図的電磁照射
研究開始時の研究の概要

近年、AIoTやCPS機器に搭載されるエッジAIは、自動運転やプラント制御などに活用されているが、小型化や低消費電力化により異常入力への耐性が低下している。とりわけDNN(ディープニューラルネットワーク)による推論では、センサ入力がAIの判断に直結するため、外部からの電磁波照射による「情報注入攻撃」によって誤動作を誘発されるリスクがある。本研究では、GTEM cellを用いた実機実験により、電磁波攻撃の成立条件と物理的メカニズムを明らかにし、定量的評価と対策手法の有効性を検証する。次世代エッジAI機器に必要なハードウェア起点のセキュリティ基盤の構築を目指す。

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公開日: 2025-04-17   更新日: 2025-06-20  

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