研究課題
基盤研究(C)
本研究は,機械学習に基づく製造機器に対する異常検知システムにおいて,センサからの多次元信号を高速かつ高効率に学習可能な手法の確立し,機器のすぐそばで異常検知を行う,すなわちエッジ異常検知を行うことを目的としたものである.研究期間中においては,機器の内部状態モデル作成に要する時間を軽減する学習手法の確立,ならびに,多次元時系列信号を効率良く取り扱うことができる超複素数に基づく学習手法の確立,という二つの課題を遂行する.