研究課題
若手研究
現代のディスプレイに広く用いられている有機EL素子は、優れた発光特性を持つ一方で、経時的な性能低下が課題となっている。この要因は複雑かつ多岐にわたり、本質的な劣化メカニズムは未解明である。本研究では、透過電子顕微鏡による電子状態分析が可能な電子線エネルギー損失分光法を用い、この劣化メカニズムを分子レベルで解明することを目的とする。特に、ナノメートルスケールの発光領域に注目し、発光分子の電子状態変化を実空間で捉えることで、分子自体の本質的な劣化過程を明らかにする。本研究で得られる知見は、さらなる長寿命化に向けた指針となることが期待される。