| 研究課題/領域番号 |
26246025
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
木村 健二 京都大学, 工学研究科, 教授 (50127073)
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| 研究分担者 |
中嶋 薫 京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (80293885)
鳴海 一雅 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, その他部局等, 研究員 (90354927)
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| 連携研究者 |
斎藤 勇一 量子科学技術研究開発機構, 量子ビーム科学研究部門, 課長 (40360424)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
41,210千円 (直接経費: 31,700千円、間接経費: 9,510千円)
2016年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
2015年度: 27,170千円 (直接経費: 20,900千円、間接経費: 6,270千円)
2014年度: 10,790千円 (直接経費: 8,300千円、間接経費: 2,490千円)
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| キーワード | 2次イオン質量分析 / 分子イメージング / フラーレンイオン / 熱スパイク / フラーレン / 二次イオン質量分析 |
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| 研究成果の概要 |
高速イオンを非晶質シリコン窒化膜に担持した生体高分子材料の試料に照射した際に、前方に放出される無傷の2次イオン収量が後方に比べて大きくなることを見出した。この前方二次イオン質量分析法を2次電子顕微鏡と組み合わせることにより、新しい顕微質量分析法を開発した。この方法では、高速イオンが試料を通過した際に前方に放出される2次イオンの質量分析を行うとともに、試料後方に放出された2次電子を2次電子顕微鏡を用いて観察し、イオンの入射点を特定することにより、試料中の特定の分子の空間分布を測定することができる。開発した装置を用いて、１ミクロン程度の分解能でアミノ酸の空間分布が測定可能であることを示した。
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