| 研究課題/領域番号 |
26248008
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物理化学
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| 研究機関 | 慶應義塾大学 |
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研究代表者 |
近藤 寛 慶應義塾大学, 理工学部(矢上), 教授 (80302800)
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| 研究分担者 |
吉田 真明 慶應義塾大学, 理工学部, 助教 (00582206)
雨宮 健太 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (80313196)
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| 連携研究者 |
吉信 淳 東京大学, 物性研究所, 教授 (50202403)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
43,940千円 (直接経費: 33,800千円、間接経費: 10,140千円)
2016年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
2015年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円)
2014年度: 35,360千円 (直接経費: 27,200千円、間接経費: 8,160千円)
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| キーワード | 触媒反応機構 / オペランド観測 / 軟X線分光 / 赤外分光 / 触媒・化学プロセス / 表面・界面物性 / 量子ビーム / 化学物理 |
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| 研究成果の概要 |
本課題では、軟X線および赤外線を用いた分光的オペランド観測システムを立ち上げ、これらを用いることによって、触媒が活性になったときの活性相とそれに吸着した反応種を反応条件下で捉えることを目的とした。両オペランド観測システムは順調に立ち上がり、質量分析計による活性観測に併せ、X線光電子分光、偏光X線吸収分光、偏光変調赤外反射吸収分光を通して、活性な触媒表面を観測できるようになった。このようなアプローチによって、これまでは分かりにくかった触媒の活性相や反応機構を明らかにすることができるようになり、触媒研究におけるこのアプローチの有用性を実証することができた。
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