寿命予測・障害予防・修復を可能とする集積回路の信頼性設計手法

• 研究課題/領域番号: 26280014
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 一部基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム
• 研究機関: 京都大学
• 研究代表者: 佐藤 高史 京都大学, 情報学研究科, 教授 (20431992)
• 研究分担者: 廣本 正之 京都大学, 情報学研究科, 助教 (60718039)
• 研究期間 (年度): 2014-04-01 – 2017-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2016年度)
• 配分額: 17,160千円 (直接経費: 13,200千円、間接経費: 3,960千円); 2016年度: 5,460千円 (直接経費: 4,200千円、間接経費: 1,260千円); 2015年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円); 2014年度: 6,110千円 (直接経費: 4,700千円、間接経費: 1,410千円)
• キーワード: 電子デバイス / デバイス設計・製造プロセス / シミュレーション / デバイスモデル / 大規模アレイ回路 / 経時特性変化 / モデル化

研究成果の概要

集積回路の構成部品であるＭＯＳトランジスタは、経時的に特性が劣化すること、高温、高電源電圧において特に劣化がすすみやすいことが知られている。本研究ではトランジスタの特性劣化を観測し、そのモデル化を行うことにより、集積回路の中・長期的な特性変動を予測可能としている。また，開発したモデルを用いて、回路中で特に劣化の進みやすいトランジスタを効果的に指摘する方法、および、劣化が進みやすいトランジスタの劣化度合を定量的に予測し、さらに劣化を緩和するための回路設計方法を与えている。

研究成果

• [国際共同研究] アリゾナ州立大学(米国)
• [国際共同研究] 南洋工科大学(シンガポール)
• [国際共同研究] アーヘン工科大学(ドイツ)
• [国際共同研究] アーヘン工科大学(ドイツ)
• [国際共同研究] 南洋理工大学(シンガポール)
• [雑誌論文] RTN in scaled transistors for on-chip random seed generation (2017)
  • 著者名/発表者名: Abinash Mohanty, Ketul Sutaria, Hiromitsu Awano, Takashi Sato, and Yu Cao
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Very Large Scaspple Integration (VLSI) Systems 巻: 印刷中 号: 8 ページ: 2248-2257
  • DOI: 10.1109/tvlsi.2017.2687762
  • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
• [雑誌論文] Utilization of path-clustering in efficient stress-control gate replacement for NBTI mitigation (2017)
  • 著者名/発表者名: Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: 印刷中
  • NAID: 130007311781
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Scalable device array for statistical characterization of BTI-related parameters (2017)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Shumpei Morita, Takashi Sato
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 巻: 25 号: 4 ページ: 1455-1466
  • DOI: 10.1109/tvlsi.2016.2638021
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Path clustering for test pattern reduction of variation-aware adaptive path delay testing (2017)
  • 著者名/発表者名: Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, and Takashi Sato
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) 巻: 32 号: 5 ページ: 601-609
  • DOI: 10.1007/s10836-016-5614-0
  • 査読あり / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E99.A 号: 7 ページ: 1400-1409
  • DOI: 10.1587/transfun.E99.A.1400
  • NAID: 130005159598
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Efficient Aging-Aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter-Based Importance Sampling (2016)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E99.A 号: 7 ページ: 1390-1399
  • DOI: 10.1587/transfun.E99.A.1390
  • NAID: 130005159599
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Efficient Aging-Aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter Based Importance Sampling (2016)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: Vol.E99-C, No.7
  • NAID: 130005159599
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: Vol.E99-C, No.7
  • NAID: 130005159598
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] An Error Correction Scheme through Time Redundancy for Enhancing Persistent Soft-Error Tolerance of CGRAs (2015)
  • 著者名/発表者名: Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Electronics 巻: E98.C 号: 7 ページ: 741-750
  • DOI: 10.1587/transele.E98.C.741
  • NAID: 130005086147
  • ISSN: 0916-8524, 1745-1353
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] BTIarray: A time-overlapping transistor array for efficient statistical characterization of bias temperature instability (2014)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 巻: 14 号: 3 ページ: 833-843
  • DOI: 10.1109/tdmr.2014.2327164
  • 査読あり / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise (2014)
  • 著者名/発表者名: Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E97.A 号: 12 ページ: 2383-2392
  • DOI: 10.1587/transfun.E97.A.2383
  • NAID: 130004706400
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Aging statistics based on trapping/detrapping: compact modeling and silicon validation (2014)
  • 著者名/発表者名: Ketul B. Sutaria, Jyothi Bhaskarr Velamala, Chris Kim, Takashi Sato, and Yu Cao
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 巻: 14 号: 2 ページ: 607-615
  • DOI: 10.1109/tdmr.2014.2308140
  • 査読あり
• [雑誌論文] A variability-aware adaptive test flow for test quality improvement (2014)
  • 著者名/発表者名: Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu, and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Computer-Aided Design 巻: 33 号: 7 ページ: 1056-1066
  • DOI: 10.1109/tcad.2014.2305835
  • 査読あり
• [雑誌論文] IDDQ Outlier Screening through Two-Phase Approach: Clustering-Based Filtering and Estimation-Based Current-Threshold Determination (2014)
  • 著者名/発表者名: Michihiro Shintani and Takashi Sato
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Information and Systems 巻: E97.D 号: 8 ページ: 2095-2104
  • DOI: 10.1587/transinf.E97.D.2095
  • NAID: 130004679289
  • ISSN: 0916-8532, 1745-1361
  • 査読あり / オープンアクセス
• [学会発表] トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル (2017)
  • 著者名/発表者名: 新 瑞徳, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第30回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場（福岡県北九州市）
  • 年月日: 2017-05-12
• [学会発表] Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 (2017)
  • 著者名/発表者名: 粟野皓光, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会
  • 発表場所: 沖縄県青年会館（沖縄県那覇市）
  • 年月日: 2017-03-02
  • 招待講演
• [学会発表] Pattern based runtime voltage emergency prediction: an instruction-aware block sparse compressed sensing approach (2017)
  • 著者名/発表者名: Yu-Guang Chen, Michihiro Shintani, Takashi Sato, Yiyu Shi, and Shih-Chieh Chang
  • 学会等名: IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
  • 発表場所: 幕張メッセ（千葉県幕張市）
  • 年月日: 2017-01-19
  • 国際学会 / 招待講演
• [学会発表] Efficient circuit failure probability calculation along product lifetime considering device aging (2017)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
  • 発表場所: 幕張メッセ（千葉県幕張市）
  • 年月日: 2017-01-17
  • 国際学会
• [学会発表] LSTA: Learning-based static timing analysis for high-dimensional correlated on-chip variations (2017)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
  • 発表場所: テキサス州オースチン市（米国）
  • 国際学会
• [学会発表] Runtime NBTI mitigtion for processor lifespan extension via selective node control (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato
  • 学会等名: IEEE Asian Test Symposium (ATS)
  • 発表場所: 広島国際会議場（広島県広島市）
  • 年月日: 2016-11-24
  • 国際学会
• [学会発表] Representative path approach for time-efficient NBTI mitigation logic replacement (2016)
  • 著者名/発表者名: Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
  • 発表場所: テキサス州オースチン市（米国）
  • 年月日: 2016-11-10
  • 国際学会
• [学会発表] Unique device identification framework for power MOSFETs using inherent device variation (2016)
  • 著者名/発表者名: Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, Rui Zhou, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
  • 発表場所: テキサス州オースチン市（米国）
  • 年月日: 2016-11-10
  • 国際学会
• [学会発表] Path grouping approach for efficient candidate-selection of replacing NBTI mitigation logic (2016)
  • 著者名/発表者名: Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
  • 発表場所: 京都リサーチパーク（京都府京都市）
  • 年月日: 2016-10-25
  • 国際学会
• [学会発表] NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価 (2016)
  • 著者名/発表者名: 忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会ソサイエティ大会
  • 発表場所: 北海道大学（北海道札幌市）
  • 年月日: 2016-09-20
• [学会発表] しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測 (2016)
  • 著者名/発表者名: 田中 悠貴, 吉永 幹, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 北海道大学（北海道札幌市）
  • 年月日: 2016-09-20
• [学会発表] Aging-aware timing analysis based on machine learning (2016)
  • 著者名/発表者名: Son Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: DAシンポジウム
  • 発表場所: 山代温泉 ゆのくに天祥（石川県加賀市）
  • 年月日: 2016-09-14
• [学会発表] Efficient transistor-level timing yield estimation via line sampling (2016)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano and Takashi Sato
  • 学会等名: Design automation conference (DAC)
  • 発表場所: テキサス州オースチン市（米国）
  • 年月日: 2016-06-09
  • 国際学会
• [学会発表] Efficient Transistor-Level Timing Yield Estimation via Line Sampling (2016)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano and Takashi Sato
  • 学会等名: Design Automation Conference (DAC)
  • 発表場所: Austin, TX, USA
  • 年月日: 2016-06-05
  • 国際学会
• [学会発表] Physically unclonable function using RTN-induced delay fluctuation in ring oscillators (2016)
  • 著者名/発表者名: Motoki Yoshinaga, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
  • 発表場所: ケベック州モントリオール市（カナダ）
  • 年月日: 2016-05-25
  • 国際学会
• [学会発表] Physically Unclonable Function Using RTN-Induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators (2016)
  • 著者名/発表者名: Motoki Yoshinaga, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
  • 発表場所: Montreal, QC, Canada
  • 年月日: 2016-05-22
  • 国際学会
• [学会発表] Workload-aware worst path analysis of processor-scale NBTI degradation (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
  • 学会等名: ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
  • 発表場所: マサチューセッツ州ボストン市（米国）
  • 年月日: 2016-05-19
  • 国際学会
• [学会発表] Workload-Aware Worst Path Analysis of Processor-Scale NBTI Degradation (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
  • 発表場所: Boston, MA,USA
  • 年月日: 2016-05-18
  • 国際学会
• [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 (2016)
  • 著者名/発表者名: 森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 （福岡県北九州市）
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] 信号確率伝播に基づいた プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 (2016)
  • 著者名/発表者名: 辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 （福岡県北九州市）
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法 (2016)
  • 著者名/発表者名: 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 福岡県北九州市
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化 (2016)
  • 著者名/発表者名: 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 福岡県北九州市
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 (2016)
  • 著者名/発表者名: 森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 福岡県北九州市
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] 信号確率伝播に基づいた プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 (2016)
  • 著者名/発表者名: 辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第29回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 北九州国際会議場 福岡県北九州市
  • 年月日: 2016-05-12
• [学会発表] CIRCUIT AGING 2, Measurement Techniques (tutorial) (2016)
  • 著者名/発表者名: Takashi Sato and Hidetoshi Onodera
  • 学会等名: IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
  • 発表場所: カリフォルニア州パサデナ市（米国）
  • 年月日: 2016-04-18
  • 国際学会 / 招待講演
• [学会発表] Circuit Aging2 - Measurement Techniques (tutorial) (2016)
  • 著者名/発表者名: Takashi Sato and Hidetoshi Onodera
  • 学会等名: International Reliability Physics Symposium (IRPS)
  • 発表場所: Pasadena, CA, USA
  • 年月日: 2016-04-17
  • 国際学会 / 招待講演
• [学会発表] Nonliner Delay-Table Approach for Full-Chip NBTI Degration Prediction (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian,Michihiro Shintani,Shunpei Morita, Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
  • 学会等名: International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
  • 発表場所: Santa Clara, CA, USA
  • 年月日: 2016-03-16
  • 国際学会
• [学会発表] 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価 (2016)
  • 著者名/発表者名: 岸野 瞬士, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 九州大学 伊都キャンパス 福岡県福岡市
  • 年月日: 2016-03-15
• [学会発表] Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in processor (2016)
  • 著者名/発表者名: Song Bian,Michihiro Shintani,Zheng Wang,Masayuki Hiromoto, Takashi Sato, Anupam Chattopadhyay
  • 学会等名: International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
  • 発表場所: Santa Rosa, CA, USA
  • 年月日: 2016-03-10
  • 国際学会
• [学会発表] Efficient Transistor-Level Timing Yield Estimation via Line Sampling (2016)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano and Takashi Sato
  • 学会等名: International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
  • 発表場所: Santa Rosa, CA, USA
  • 年月日: 2016-03-10
  • 国際学会
• [学会発表] 最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装 (2016)
  • 著者名/発表者名: 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
  • 発表場所: 沖縄県青年会館 沖縄県那覇市
  • 年月日: 2016-02-29
• [学会発表] モンテカルロ法に基づくタイミング歩留まり解析の高速化 (2015)
  • 著者名/発表者名: 粟野 皓光, 佐藤 高史
  • 学会等名: デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地-
  • 発表場所: 長崎県勤労福祉会館 長崎県長崎市
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling (2015)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano and Takashi Sato
  • 学会等名: Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
  • 発表場所: Austin, TX, USA
  • 年月日: 2015-11-06
  • 国際学会
• [学会発表] 二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の速いスピン更新方法の検討 (2015)
  • 著者名/発表者名: 業天 英, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 東北大学 宮城県仙台市
  • 年月日: 2015-09-08
• [学会発表] プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討 (2015)
  • 著者名/発表者名: 森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 東北大学 宮城県仙台市
  • 年月日: 2015-09-08
• [学会発表] 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討 (2015)
  • 著者名/発表者名: 氏家 隆之, 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 東北大学 宮城県仙台市
  • 年月日: 2015-09-08
• [学会発表] 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム (2015)
  • 著者名/発表者名: 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 東北大学 宮城県仙台市
  • 年月日: 2015-09-08
• [学会発表] Fast estimation on NBTI-induced delay degradation based on signal probability (2015)
  • 著者名/発表者名: Song Bian,Michihiro Shintani,Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
  • 学会等名: 情報処理学会 DAシンポジウム2015
  • 発表場所: 山代温泉 ゆのくに天祥 石川県加賀市
  • 年月日: 2015-08-28
• [学会発表] デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法 (2015)
  • 著者名/発表者名: 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 情報処理学会 DAシンポジウム2015
  • 発表場所: 山代温泉 ゆのくに天祥 石川県加賀市
  • 年月日: 2015-08-28
• [学会発表] ニューラルネットワークハードウエアの低電圧動作時における演算誤り緩和 (2015)
  • 著者名/発表者名: 大荷 唯明、 廣本 正之、佐藤高史
  • 学会等名: 第28回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
  • 年月日: 2015-08-04
• [学会発表] 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路 (2015)
  • 著者名/発表者名: 小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 第28回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
  • 年月日: 2015-08-04
• [学会発表] ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向 (2015)
  • 著者名/発表者名: 佐藤 高史
  • 学会等名: 第28回 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
  • 年月日: 2015-08-03
  • 招待講演
• [学会発表] Accelerating Random-Walk-based power grid analysis through error smoothing (2015)
  • 著者名/発表者名: Tsuyoshi Okazaki, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
  • 発表場所: 礁渓, 台湾
  • 年月日: 2015-03-17
• [学会発表] ECRIPSE: An efficient method for calculating RTN-induced failure probability of an SRAM cell (2015)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: Design, Automation & Test in Europe (DATE)
  • 発表場所: Grenoble, France
  • 年月日: 2015-03-11
• [学会発表] A scalable device array for statistical device-aging characterization (2015)
  • 著者名/発表者名: Takashi Sato, Hiromitsu Awano, and Masayuki Hiromoto
  • 学会等名: IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
  • 発表場所: 桂林, 中国
  • 年月日: 2015-03-04
  • 招待講演
• [学会発表] RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF (2015)
  • 著者名/発表者名: 吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術研究報告
  • 発表場所: 沖縄県青年会館, 沖縄県那覇市
  • 年月日: 2015-03-04
• [学会発表] 命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法 (2015)
  • 著者名/発表者名: 辺 松, 新谷 道広, Zheng Wang, 廣本 正之, Anupam Chattopadhyay, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術研究報告
  • 発表場所: 沖縄県青年会館, 沖縄県那覇市
  • 年月日: 2015-03-03
• [学会発表] RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 (2014)
  • 著者名/発表者名: 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会技術研究報告（デザインガイア2014）
  • 発表場所: 別府国際コンベンションセンター, 大分県別府市
  • 年月日: 2014-11-26
• [学会発表] Sensorless device-parameter estimation through fmax westing (2014)
  • 著者名/発表者名: Michihiro Shintani and Takashi Sato
  • 学会等名: IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
  • 発表場所: San Jose, CA, USA
  • 年月日: 2014-11-04
• [学会発表] Variability in device degradations: statistical observation of NBTI for 3996 transistors (2014)
  • 著者名/発表者名: Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
  • 学会等名: The 44th Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
  • 発表場所: Venice, Italy
  • 年月日: 2014-09-24
• [学会発表] ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討 (2014)
  • 著者名/発表者名: 吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 電子情報通信学会 ソサイエティ大会
  • 発表場所: 徳島大学常三島キャンパス, 徳島県徳島市
  • 年月日: 2014-09-23
• [学会発表] 3996 トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき (2014)
  • 著者名/発表者名: 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 情報処理学会DAシンポジウム
  • 発表場所: ホテル下呂温泉水明館, 岐阜県下呂市
  • 年月日: 2014-08-28
• [学会発表] 高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索 (2014)
  • 著者名/発表者名: 木村 和紀, 廣本 正之, 佐藤 高史
  • 学会等名: 回路とシステムワークショップ
  • 発表場所: 淡路国際会議場, 兵庫県淡路市
  • 年月日: 2014-08-05
• [図書] Circuit design for reliability, Chapter 5 (2015)
  • 著者名/発表者名: Takashi Sato and Hiromitsu Awano
  • 総ページ数: 272
  • 出版者: Springer-Verlag New York
• [備考] 情報回路方式(佐藤高史)研究室 研究室ホームページ
  • URL: http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/
• [備考] 情報回路方式研究室
  • URL: http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/
• [備考] DATE2015
  • URL: http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/?p=3257
• [備考] IEEE論文誌への論文掲載
  • URL: http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/?p=2846