研究課題
基盤研究(B)
本研究では、異方性ひずみ導入による鉄シリサイド半導体のバンド構造制御を目的とし、ひずみ評価技術の構築、ひずみ緩和メカニズムの検証、SiGe上への鉄シリサイドエピタキシャル成長、異方性ひずみの評価および発光寿命の評価を行った。その結果、偏光ラマン分光法によりひずみ評価技術の構築し、Si欠陥によりひずみ緩和が生じることを明らかにした。SiGe(111)上の鉄シリサイドエピタキシャル成長にもはじめて成功し、その試料においてバンド構造変化を確認した。また、発光寿命評価では鉄シリサイド半導体のバンド間遷移による発光寿命の決定に成功した。
すべて 2017 2016 2015 2014 その他
すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (9件) (うち国際共著 1件、 査読あり 9件、 謝辞記載あり 8件) 学会発表 (45件) (うち国際学会 10件、 招待講演 3件) 図書 (1件)
Journal of Applied Physics
巻: 121 号: 11
10.1063/1.4978372
Japanese Journal of Applied Physics : Conference Proceedings
巻: 5 ページ: 011106-011106
10.7567/jjapcp.5.011106
Japanese Journal of Applied Physics
巻: 56 号: 5S1 ページ: 05DD03-05DD03
10.7567/jjap.56.05dd03
210000147768
巻: 5 ページ: 011204-011204
10.7567/jjapcp.5.011204
巻: 56 号: 5S1 ページ: 05DD02-05DD02
10.7567/jjap.56.05dd02
210000147767
巻: 印刷中 ページ: 011104-011104
10.7567/jjapcp.5.011104
巻: 54 号: 7S2 ページ: 07JB05-07JB05
10.7567/jjap.54.07jb05
巻: 3
巻: 印刷中