| 研究課題/領域番号 |
26330067
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 大分大学 |
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研究代表者 |
大竹 哲史 大分大学, 理工学部, 准教授 (20314528)
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| 研究協力者 |
佐藤 秀一
森保 孝憲
本田 太郎
小野 廉二
鹿野 礁
佐脇 光亮
上田 大樹
嶋津 大地
南薗 隼人
渡邊 恭之介
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2016年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2015年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2014年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | FPGA / フィールドテスト / 特定用途依存テスト / 遅延故障 / 故障診断 / BIST / 対故障設計 / 劣化検知 / 耐故障設計 / ＦＰＧＡ / ＢＩＳＴ / 劣化検 |
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| 研究成果の概要 |
近年の集積度の向上により，集積回路を少量生産するとコストが高くなる傾向にあり，特定用途向けの集積回路を少量生産する代わりに，ユーザが自由に回路を構成できるフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）を利用することによるコスト削減が進むと考えられている．本研究では，高い信頼性が必要な用途へのＦＰＧＡの利用のための，ＦＰＧＡの高信頼化に関する研究を行い，使用環境(フィールド)で検査を行うための技術を開発した．
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