研究課題
基盤研究(C)
アナログ回路を混載したシステムＬＳＩのアナログ回路部分の故障検出をＬＳＩの製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を目的として研究を行った。本研究ではアナログ混載システムＬＳＩで多用される基準電源回路とΔΣ変調器をモチーフとし、回路のインパルス応答に基づいた回路素子の開放/短絡などの致命的故障を検出できる故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作/測定の結果、回路素子の開放/短絡については８６～９５％の検出が出来ることを確認した。また、カオス発振回路をテスト入力することで、回路素子の定数故障（パラメトリック故障）を検出できる見込みが立った。
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