| 研究課題/領域番号 |
26390028
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
ナノ材料工学
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
酒井 明 京都大学, 工学研究科, 教授 (80143543)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2016年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2015年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2014年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
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| キーワード | 金属単原子接点 / 接点安定性 / 交流安定性 / エレクトロマイグレーション / 接点寿命 / 金属ナノワイヤ / コンダクタンス / 単原子接点 / 高バイアス安定性 / 交流破断電圧 |
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| 研究成果の概要 |
交流バイアス下では接点の電流誘起破断の駆動力が時間平均されて弱まり，安定性が向上する．この交流効果を，Au単原子接点を対象として検証した．最初に交流破断電圧を100 kHzまでの周波数域で測定したが，破断電圧は直流の場合よりも低く，交流効果は観測されなかった．これはバイアスの増加とともに電極原子のホッピング頻度が増加し，交流による時間平均効果が効かなくなるためである．そこでバイアス振幅を低く抑え，1 MHzの交流バイアス下でAu単原子接点の寿命を測定する実験を行った．しかし低バイアスでは電圧／電流の影響は小さいためか，接点寿命分布は直流の場合と異ならず，交流の効果は認められなかった．
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