| 研究課題/領域番号 |
26390044
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
応用物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
青木 優 東京大学, 大学院総合文化研究科, 准教授 (50302823)
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| 連携研究者 |
増田 茂 東京大学, 大学院総合文化研究科, 教授 (50173745)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2016年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2015年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2014年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
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| キーワード | 有機デバイス / 価電子状態 / 電子分光 / 光電子顕微鏡 / 電子放射顕微鏡 |
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| 研究成果の概要 |
有機－金属，有機－半導体といった有機デバイスにおいて動作環境下(電圧印加)でどのような電子準位接続が生じるかに着目し，最先端の電子分光や電子放射顕微鏡を駆使して，真空準位，価電子バンドなどを断層的に分析し，界面も含めたデバイスの系全体における電子準位接続の3次元マッピングを行った．特にフェルミ準位近傍に出現する電子状態の理解を深めることで，新規デバイス作製にとって重要な要素となる電荷注入障壁や電荷輸送特性を自在に制御するための指針を与えることが出来た．
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