| 研究課題/領域番号 |
26400419
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
原子・分子・量子エレクトロニクス
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| 研究機関 | 東洋大学 |
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研究代表者 |
本橋 健次 東洋大学, 理工学部, 教授 (50251583)
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| 研究分担者 |
内田 貴司 東洋大学, 学際・融合科学研究科, 准教授 (90470343)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2016年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2015年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2014年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
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| キーワード | 鉄内包フラーレン / イオン表面散乱 / フラーレンイオン / フェロセン / 自己組織化単分子膜 / フラーレン / 原子内包 / 質量分析 / イオンビーム / 表面散乱 / X線光電子分光 / イオン散乱 / 円筒面 / 質量電荷比 / 分離 / 抽出 |
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| 研究成果の概要 |
磁気共鳴画像診断の造影剤として期待される鉄内包フラーレンを生成すると同時に単離する新しい技術を開発するため，フェロセン終端チオール自己組織化単分子膜(Fe-thiol-SAM)へのフラーレンイオン散乱における散乱粒子の質量分析実験を行った。Fe-thiol-SAMを吸着した二枚の円筒凹凸レンズ及び二枚の平板レンズの隙間にフラーレンイオンビームを入射し，散乱粒子の質量分析を行った結果，鉄原子とフラーレン分子の結合イオンを検出した。さらに，その粒子を単結晶シリコン基板に堆積し，誘導結合プラズマ元素分析を行った結果，鉄原子を検出した。以上の結果より，鉄と結合したフラーレン分子の合成に成功した。
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