| 研究課題/領域番号 |
26410092
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
機能物性化学
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| 研究機関 | 国立研究開発法人理化学研究所 (2015-2017)
大阪大学 (2014) |
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研究代表者 |
横田 泰之 国立研究開発法人理化学研究所, Kim表面界面科学研究室, 研究員 (00455370)
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| 連携研究者 |
竹谷 純一 東京大学, 新領域創成科学研究科, 教授 (20371289)
植村 隆文 東京大学, 新領域創成科学研究科, 講師 (30448097)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2016年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2015年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2014年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | 電気二重層トランジスタ / 原子間力顕微鏡 / イオン液体 / 有機半導体 / 古典分子動力学計算 / 界面構造 / 同時計測 |
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| 研究成果の概要 |
イオン液体を用いた電気二重層ゲート型有機電界効果トランジスタ(EDL-FET)は、動作電圧の大幅な低下やキャリア密度の増加等で注目を集めているが、系が複雑なため界面構造に関する情報を得ることが難しい。本研究では、EDL-FET動作下におけるチャネル領域の直接観察と微細加工に挑戦するための5電極AFMの開発を行った。これによりEDL-FET性能が劣化する際に有機半導体表面のステップ密度が著しく増加することを明らかにした。
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