| 研究課題/領域番号 |
26630293
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
金属物性・材料
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
巽 一厳 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授 (00372532)
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| 連携研究者 |
武藤 俊介 (20209985)
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| 研究協力者 |
RUSZ Jan
OPPENEER Peter
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
2014年度: 3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
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| キーワード | 強磁性薄膜 / 電子磁気円二色性 / 電子エネルギー損失分光 / (走査）透過型電子顕微鏡 / 磁性薄膜 / 薄片化 / 電子磁気円偏向二色性 / 電子磁気直線偏向二色性 / 磁性パターン / 走査透過電子顕微鏡 |
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| 研究成果の概要 |
（走査）透過型電子顕微鏡に接続した電子エネルギー損失分光で得られる磁性信号を実材料で得ることを目的とした。厚さ50nm、大きさ100nm四方の、均一に極めて厚みが薄い広範な試料領域をこの計測は必要とするため、MgO基板上の強磁性薄膜においては、金属薄膜とMgOが強固に密着しており、粉砕／機械研磨／化学研磨では測定に耐える試料は準備できなかった。新規に導入されたイオンミリング装置により、より一般的な金属やセラミックスに関してTEM試料加工を行い、磁性信号が得られた。このことから、集束イオンビームと低加速イオンミリングを組合わせたMgO基板の薄片化による強磁性金属薄膜の試料加工が有望である。
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