電子顕微鏡における試料損傷軽減のための画像処理法

• 研究課題/領域番号: 59550034
• 研究種目: 一般研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 物理計測・光学
• 研究機関: 日本大学
• 研究代表者: 石川 晃 日本大学, 文理学部, 講師
• 研究期間 (年度): 1984
• 研究課題ステータス: 完了 (1984年度)
• 配分額: 800千円 (直接経費: 800千円); 1984年度: 800千円 (直接経費: 800千円)