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イオンビーム技術の基礎科学

研究課題

研究課題/領域番号 60120003
研究種目

特定研究

配分区分補助金
研究機関東京大学

研究代表者

藤本 文範  東京大学, 教養, 教授 (70012242)

研究期間 (年度) 1985
研究課題ステータス 完了 (1985年度)
配分額 *注記
52,500千円 (直接経費: 52,500千円)
1985年度: 52,500千円 (直接経費: 52,500千円)
キーワード共鳴励起 / チャネリング / 不純物位置 / 超微細場 / 表面チャネリング / 表面再配列構造 / PIXE法 / RB法
研究概要

本研究は、共鳴励起の研究、偏極イオンの注入の研究、固体表面・界面の研究の3グループに分かれて進められた。
1.共鳴励起の研究では、高精度ゴニオメータおよびチェンバーを作製する一方、銀の(100)単結晶薄膜を作り、高速重イオンの透過チャネリング実験、共鳴励起による荷電変換に最も敏感と考えられるコンボイ電子スペクトルの測定を行った。また、表面チャネリングによる共鳴励起の研究では、単結晶表面で方位角を変えて小角散乱させたH,Heイオンの荷電分布を測定した。
2.偏極イオンを用いる研究では高速核スピン制御データ収録装置を完成し、これと手作りの装置を結合してバナジウム中の【^(12)N】が四面体位置を占めることを見出した。さらに、鉄中の【^(12)N】について測定中である。また、鉄中の原子番号56までの不純物について置換位置における超微細場、スピン格子緩和時間の計算を行い、さらに、原子番号10までの不純物について格子間位置も含めた安定位置・周辺原子の緩和等を求めるプログラムを作製している。
3.表面構造の研究では、チェンバーと回転台を作製し、Si(100)2×8構造が約1%の表面濃度のNiの付着により現れることを見出した。表面分析の研究では、反跳粒子検出による軽元素の定量法の感度・深度分解能を評価すると共に、チャネリング法によりTi,Zr中のDが、四面体位置を占めることを見出した。PIXE法による分析の研究では、波高分析器を購入し、不純物深度分布の標準試料を作成し、フーリェ法による深度分布の解析法の開発および検出感度の評価を行った。界面構造の研究では、MBE法で作ったGaas(100)面上のZnSeとZnSについて、チャネリング法により積層界面に格子緩和があることを見出した。

報告書

(1件)
  • 1985 実績報告書
  • 研究成果

    (5件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (5件)

  • [文献書誌] J.Phys.Soc.Jpn.55-Suppl.(1985)

    • 関連する報告書
      1985 実績報告書
  • [文献書誌] J.Phys.Soc.Jpn.54-11. (1985)

    • 関連する報告書
      1985 実績報告書
  • [文献書誌] Surface Science. 159-256. (1985)

    • 関連する報告書
      1985 実績報告書
  • [文献書誌] Nucl.Instr.& Meth.B6-3. (1985)

    • 関連する報告書
      1985 実績報告書
  • [文献書誌] J.Microscopy. 18-4. (1986)

    • 関連する報告書
      1985 実績報告書

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公開日: 1987-03-31   更新日: 2016-04-21  

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