| 研究分担者 |
水井 順一 三菱重工業, 広島造船所, 課長 (80029313)
政井 邦昭 名古屋大学, プラズマ研究所, 助手 (80181626)
俵 博之 名古屋大学, プラズマ研究所, 助教授 (90037797)
藤田 順治 名古屋大学, プラズマ研究所, 教授 (50023700)
森田 繁 名古屋大学, プラズマ研究所, 助手 (80174423)
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| 研究概要 |
1.スペクトル線強度比を用いたプラズマ診断
プラズマ中の不純物イオンからのスペクトル線強度は, 電子温度及び密度により変化する. 従って一本のスペクトル線強度の増減からプラズマの状況を判断するのは不充分である. 確実な情報を得る方法として同じイオンから発生するスペクトル線の強度比を用いる診断法を開発した. 又J+PPT-IIUカマクからの真空紫外スペクトル線を測定しこの方法を適用した.
i)酸素イオンからのスペクトル線
OIV-OVIIイオンの温度依存性をもつΔn=o及び1のスペクトル線強度比を測定し, 温度変化を得ることができた. ICRF加熱の場合, 週辺の温度はガスパフにより下るが, 中心近くはICRFのため上昇することが解った. 又準安定状態から励起されるスペクトル線と共鳴線との強度比より密度の変化が得られた. OVの準安定状態の占有密度はOIVからの内鼓励起の影響をうけていることが解った.
(ii)Feイオンからのスペクトル線
基底状態の徴細構造の関与するFeXXIIの114A2F2と117A2F2を測定し, 強度比がプラズマ中の密度変化に応じて変化する事を観測し, プラズマ診断に有用である事を確認した.
2.多チャンネル極端真空紫外分光器の作製
スペクトル線の強度比を同じショットで得るため, 多チャンネル検出器付分光器を作製した. 日立製作の平面上に結像する回折格子を用い検出器としてはマイクロチャネルプレートとリニアーイメージャンサーを用いた. TPD-IプラズマからのHe,N,Neイオンのスペクトルを分光器のテストの為測定し, 性能は設計通りであった. HeIIイオンのn=2から8までの古有密度の反転分布が測定された.
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