研究概要 |
求電子試薬のipso攻撃によってひき起こされるベンゼ/イド化合物の異常反応を、多置換アレーンの側鎖ニトロ化の際にみられる異常性を中心に検討した。置換基による生成物分布の変化、アリールアセタートの電気化学的なニトロ化脱炭酸,側鎖置換反応の初期過程のESR分光法による検討などから、硝酸/ジクロロメタン系における側鎖置換反応はイオン機構,硝酸/酢酸無水物系における側鎖置換反応はラジカル機構で進むものと推定した。また從来から側鎖置換反応の中間体と想定されながら単離されていなかったメチレンシクロヘキサジエン誘導体の初めての単離にも成功した。
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