| 研究課題/領域番号 |
60470083
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
工業物理化学・複合材料
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| 研究機関 | 熊本大学 |
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研究代表者 |
安河内 一夫 熊本大学, 工学部, 教授 (60040359)
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| 研究分担者 |
谷口 功 熊本大学, 工学部, 助教授 (90112391)
山口 博子 熊本大学, 工学部, 助手 (60040424)
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| 研究期間 (年度) |
1985 – 1986
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| 研究課題ステータス |
完了 (1988年度)
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| 配分額 *注記 |
7,500千円 (直接経費: 7,500千円)
1986年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
1985年度: 6,900千円 (直接経費: 6,900千円)
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| キーワード | FTIR / 反射赤外分光法 / 電極 溶液界面 / inーSitu測定 / 金属シアノ錯体 / 有機薄膜 / 有機電極反応 / 電解重合 / 炭酸ガス還元 / チトクロムC / 電極表面測定 |
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| 研究概要 |
本研究では、FTIR法を用いてinーsituに電極/電解液界面の電気化学測定を可能にする装置を組み立て、いくつかの電極反応過程に適用し次の様な知見を得た。
1.市販の偏光反射赤外スペクトル測定用アクセサリーを工夫することでFTIR法を用いた電極界面スペクトルの測定装置を組み立てた。測定上の重要なポイントは、高感度検出器の使用と適切なセルの作製にある。本研究で構成した装置を用いてCN^-やFe(CN)X^<4-13->_6系の測定を行い、本装置が正常に作動していることが確かめられた。
2.CーN伸縮振動に注目して、いくつかの金属シアノ錯体の界面電気化学測定を行なった。WおよびM_0シアノ錯体では中心金属の3価又は4価の酸化状態に、CN伸縮振動はほとんど影響されない。C_0シアノ錯体の場合も酸化体、還元体のCーN伸縮振動を区別して捕えることが困難であった。一方、金電極上では、シアノ錯体の酸化還元とともに金シアノ化合物の生成が認められた。特に、Au(CN)X^-_2の酸化反応は、過剰のCN^-が酸化され、Au(CN)X^-_2ー2e+H_2O→AuCN+CNO^-+2H^+となることが明らかになった。
3.電極表面に生成した薄膜のうち、厚みのあるものについては赤外反射スペクトルが得られた。本研究では、メチルビオローゲンの還元によって生じる薄膜およびチトクロムCの薄膜について、電極電位による膜の状態変化を示すスペクトルを得た。その他、機能性電解重合膜や炭酸ガスの還元反応に関する赤外分光学的知見を得た。
4.しかし、電極界面に存在する単分子層の吸着種の情報を得るためには測定装置の光学系の改良による空気中の水蒸気やCO_2によるノイズの低減や各種変調法の導入が必要である。
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