| 研究課題/領域番号 |
61300016
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| 研究種目 |
総合研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
広領域
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| 研究機関 | 東京国立文化財研究所 |
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研究代表者 |
濱田 隆 (1988) 東京国立文化財研究所, 所長 (00125212)
伊藤 延男 (1986-1987) 東京国立文化財研究所 (40124193)
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| 研究分担者 |
関口 正之 東京国立文化財研究所, 美術部, 部長 (60000452)
伊原 恵司 東京国立文化財研究所, 修復技術部, 部長 (40124193)
見城 敏子 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 室長 (90000455)
門倉 武夫 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 主任研究官 (10000457)
馬淵 久夫 (馬渕 久夫) 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 部長 (30011498)
江本 載理 (江本 義理) 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 部長 (40000442)
百橋 明穂 神戸大学, 文学部, 助教授 (30090377)
三浦 定俊 東京国立文化財研究所, 保存科学部, 主任研究官 (50099925)
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| 研究期間 (年度) |
1986 – 1988
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| 研究課題ステータス |
完了 (1988年度)
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| 配分額 *注記 |
18,900千円 (直接経費: 18,900千円)
1988年度: 2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
1987年度: 8,000千円 (直接経費: 8,000千円)
1986年度: 8,900千円 (直接経費: 8,900千円)
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| キーワード | 壁画 / 非破壌分析 / 彩色文化財 / 蛍光X線分析 / X線回折 / 赤外吸収 / 赤外分光計 / 螢光X線 / 可搬式 / 非破壊 / 法隆寺 / 栄山寺 / 彩色 / 文化財 / 現地調査 / X線回析 / X線エミシオグラフィー / 赤外分光分析 |
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| 研究概要 |
敦煌莫高窟に代表されるように、東アジアには種々の顔料を使った壁画が残されている。それらの顔料の歴史的変遷を知ることは、美術史的にも保存科学的にも重要である。この場合、現場で非破壊的に分析することが望ましい。プロセスとしては、蛍光X線により元素を同定し、X線回折で化合物、特に結晶を同定するということになる。さらに、有機性の色素が使われているときには、赤外吸収を用いる。これら3種類の機器は、通常、実験室内で粉末状の試料を測定するように設計されている。本研究は、可搬式で、壁面をそのまま測定することができる機器を開発し、実際の例に応用して問題点を拾い上げることを目的とした。
1.段型プラットリフターの作成:3種類の機器に共通に使用でき、現場で任意の1種類の機器を載せて、壁画近くで上下・前後・左右に微動させる架台である。油圧式で高さ3mまで持上げ可能である。特注により作成した。
2.蛍光X線分析装置とX線回折装置の改造:従来の装置を実験室外で使用できるように、電源・冷却水・架台などを改変した。
3.赤外吸収分光計の特注:市販の機器は内部試料型なので、クベルク・ムンクの拡散反射法を採用し、壁面のような外部試料を測れるように設計変更させた。
4.壁画調査のテスト:横浜市の三渓園天瑞寺寺塔(2回)と五条市栄山寺八角堂(1回)において壁画残部を調査した。三渓園では銅が検出され、緑青と同定された。栄山寺では銅と水銀が検出されたがX線回折装置の故障のため、化合物は同定できなかった。全体を通じて実験室外では、電源(電圧降下)、水(供給源)、足場(水平に保つ)、気象条件によるコンピュータの故障などが問題になり、それらへの対策を予め考えることが重要とわかった。
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