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高性能低加速電子銃の開発に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 61850011
研究種目

試験研究

配分区分補助金
研究分野 物理計測・光学
研究機関名古屋大学

研究代表者

丸勢 進  名古屋大学, 工学部, 教授 (20022981)

研究分担者 花井 孝明  名古屋大学, 工学部, 助手 (00156366)
下山 宏  名古屋大学, 工学部, 助教授 (30023261)
内川 嘉樹  名古屋大学, 工学部, 教授 (20023260)
日比野 倫夫  名古屋大学, 工学部, 教授 (40023139)
研究期間 (年度) 1986 – 1987
研究課題ステータス 完了 (1987年度)
配分額 *注記
11,500千円 (直接経費: 11,500千円)
1987年度: 2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
1986年度: 9,500千円 (直接経費: 9,500千円)
キーワード電子銃 / 低加速電子銃 / 電界放出電子銃 / 磁界重畳型電子銃 / 加速レンズ / 減速レンズ / 超高真空
研究概要

本研究では, 従来の電界放出電子銃(FEG)にみられた種々の欠点を補うために, FEGの陰極チップー第1陽極空間のダイオード領域に磁界を重畳した磁界重畳型低加速FEGを開発し, その電子光学的特性の計算と測定を行った. その結果は以下のようにまとめられる. ただし, 陰極チップー第1陽極間電圧をV_1, 陰極チップー第2陽極間電圧をV_2, ダイオード領域に重畳される有効磁界に対応するアンペア回数をNIとする.
1.磁界を重畳したダイオード領域の電子光学的一次特性(焦点特性)は, 励磁パラメータk≡NI/√V_1によってほぼ-義的にに決まる.
2.磁界重畳によるダイオード領域の電子線のangukar confinementの改善の様子を, 定量的に明らかにした.
3.ダイオード領域への磁界重畳により, 第1-第2陽極空間の加・減速レンズ界に対して, 光源位置を任意にコントロールできることを明らかにした. このことは, 電圧比V_2/V1を変化させる必要がある場合に, 加・減速レンズ界の特性が大きく変化してしまう不便さを解消できることを示している.
4.磁界を重畳することにより, 放出電子流の利用高率を向上できること, 特に, FEGよりビームを平行出射させて, FEGから取り出し得るビーム電流を大幅に増加できることがわかった.
5.最大のビーム電流を得るには, 励磁パラメータに最適値が存在刷ることを明らかにし, これを電圧比V_2/V_1の関数として具体的に明らかにした.
6.ダイオード領域ならびに加・減速レンズ界の球面収差係数が, 重畳磁界の関数としてどのように変化するかを明らかにした.
7.磁界重畳型FEGをprobe forming systemに応用した場合に, どの程度のプローブ電流でどの程度のプローブ径が得られるかを, FEGの種々の動作条件において定量的に明らかにした.

報告書

(2件)
  • 1987 研究成果報告書概要
  • 1986 実績報告書
  • 研究成果

    (49件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (49件)

  • [文献書誌] 飯吉 僚: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 235-238 (1986)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 255-258 (1986)

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  • [文献書誌] 花井 孝明: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 307-308 (1986)

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  • [文献書誌] 杉山 せつ子: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 429-430 (1986)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 431-432 (1986)

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  • [文献書誌] 杉山 範雄: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 647-648 (1986)

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  • [文献書誌] 丸勢 進: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 901-906 (1986)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: J.Electron Microscopy,Suoolement. 35. 919-920 (1986)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: 電子顕微鏡. 21. 99-104 (1986)

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  • [文献書誌] 花井 孝明: Ultramicroscopy. 20. 329-336 (1986)

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  • [文献書誌] 杉山 範雄: J.Electron Microscopy. 35. 9-18 (1986)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: J.Electron Microscopy. 35. 422-425 (1986)

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  • [文献書誌] 丸勢 進: 化学工学. 50. 286-289 (1986)

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  • [文献書誌] 杉山 範雄: Micro Beam Analysis '87. 79-81 (1987)

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  • [文献書誌] 池田 晋: 応用物理. 56. 97-105 (1987)

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  • [文献書誌] 久野 裕次: IEEE Trans.Magnetics. MAG-24. (1988)

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  • [文献書誌] 杉山 範雄: Scanning. (1988)

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  • [文献書誌] 丸勢 進: Hitachi Instrument News(Electron Microscopy Edition). 11. 10-14 (1987)

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  • [文献書誌] 丸勢 進: Hawaii Seminar on Electron Microscopy. 15-16 (1987)

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  • [文献書誌] 下山 宏: Hawaii Seminar on Electron Microscopy. 21-22 (1987)

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  • [文献書誌] 飯吉 僚: J.Electron Microscopy. 37. 1-8 (1988)

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  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Proc.4th Asia-Pacific Conf.Electron Microscopy. (1988)

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  • [文献書誌] 丸勢 進: Proc.4th Asia-Pacific Conf.Electron Microscopy. (1988)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] IIYOSHI, Ryo: "point Cathode Electron Gum Using Electron Beam Heating" J. Electron Mictoscopy, Supplement. 35. 235-238 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HIBINO, Michio: "Foil Lens - Correction of Spherical Aberration" J. Electron Micrscopy, Supplement. 35. 255-258 (1986)

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  • [文献書誌] HANAI, Takaaki: "A Shadow Image Method for Measutements of Axial Geometrical Aberrations of a probe Forming Lens" J. Electron Mictoscopy, Supplement. 35. 307-308 (1986)

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  • [文献書誌] SUGIYAMA, Setsuko: "Calculations of Discerimination Limit in Bright and Dark Field STEM" J. Electron Microscopy, Supplement. 35. 429-430 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HIBINO, Michio: "Resolution in scattering Contrast Imaging by Means of Bright and Dark Field STEM" J. Electron Microsopy, Supplement. 35. 431-432 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] SUGIYAMA, Norio: "Contrase Mechanism of SEM Images over the Passivation Layer of Micro Electronic Devices" J. Electron Microscopy, Supplement. 35. 647-648 (1986)

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  • [文献書誌] MARUSE, Susumu: "A High Voltage Scanning Transmission Electron Microscope Developed at Nagoya University" J. Electron Microscopy, Supplement. 35. 901-906 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HIBINO, Michio: "Observatyion of Atomic Number Deperndent Contrast Using Signal Manipulation in High Voltage STEM" J. Electron Microscopy, Supplement. 35. 919-920 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HANAI, Takaaki: "Measurement of Axial Geometrical Aberrations of the probe-Forming Lens by Means of the Shadow Image of Fine Particles" Ultramictoscopy. 20. 329-336 (1986)

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  • [文献書誌] SUGIYAMA, Norio: "Low Voltage SEM Inspection of Micro Electronic Devices" J. Electron Microscopy. 35. 9-18 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HIBINO, Michio: "High Voltage Electron Energy Loss Spectroscopy Evaluated from Signal to Noise Ratio" J. Electron Mictoscopy. 35. 422-425 (1986)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] SUGIYAMA, Norio: "Voltage Contrast Mechanism of SEM Images over Passivated Devices" Micro Beam Analysis '87. 79-81 (1987)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] KUNO, Yuji: "Fundamental Study for High Accuracy Calculation of 3-D Electromagnetic Field" IEEE Trans. Magnetics. MAG-24. (1988)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] SUGIYAMA, Norio: "SEM Voltage Contrast Mechanism of Passivated Devices" Scanning. (1988)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] MARUSE, Susumu: "A High Voltage Scanning Transmission Electron Mictoscope Developed at Nagoya University" Hitachi Instrument News (Electron Microsopy Edition). 11. 10-14 (1987)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] MARUSE, Susumu: "Construction of a High Voltage Scanning Transmission Electron Microscope" Hawaii Seminar on Electron Microscopy. 15-16 (1987)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] SHIMOYAMA, Hiroshi: "Development of Field Emission for i MV Electron Microscope" Hawaii Seminar on Electron microscopy. 21-22 (1987)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] IIYOSHI, Ryo: "Point Cathode Electron Gum Using Electron Bombardment for Cathode Tip Heating" J. Electron Microscopy. 37. 1-8 (1988)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] HIBINO, Michio: "Reduction of Statistical Noise of Electrons in STEM" Proc. 4th Asia-Pacific Conf. Electron Microscopy. (1988)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] MARUSE, Susumu: "New Trenc in HV-STEM - Develpment of Field Emission Gum for HVEM" Proc. 4th Asia-Pacific Conf. Electron Mictoscopy. (1988)

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      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] N.Sugiyama: J.Electron Microscopy. 35. 9-18 (1986)

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      1986 実績報告書
  • [文献書誌] T.Hanai: Ultramicroscopy. 20. 329-336 (1986)

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      1986 実績報告書
  • [文献書誌] R.Iiyoshi: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 235-238 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] M.Hibino: J.Electron Microscopy,Supplement. 35. 255-258 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] 内川嘉樹: 電子顕微鏡. 21. 43-50 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] 日比野倫夫: 電子顕微鏡. 21. 99-104 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書

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公開日: 1987-03-31   更新日: 2016-04-21  

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