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球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 61850069
研究種目

試験研究

配分区分補助金
研究分野 電子機器工学
研究機関名古屋大学

研究代表者

日比野 倫夫  名古屋大学, 工学部, 教授 (40023139)

研究分担者 花井 孝明  名古屋大学, 工学部, 助手 (00156366)
杉山 せつ子  名古屋大学, 工学部, 助手 (00115586)
下山 宏  名古屋大学, 工学部, 助教授 (30023261)
研究期間 (年度) 1986 – 1987
研究課題ステータス 完了 (1987年度)
配分額 *注記
5,300千円 (直接経費: 5,300千円)
1987年度: 1,500千円 (直接経費: 1,500千円)
1986年度: 3,800千円 (直接経費: 3,800千円)
キーワード電子レンズ / 球面収差 / 収差補正 / 薄膜レンズ / 電子プローブ / 走査透過電子顕微鏡(STEM) / 分解能 / SN比 / 球面収差補正
研究概要

電子レンズの球面を補正する薄膜レンズを用いて, 走査透過電子顕微鏡(STEM)の分解能の向上を目指した研究を行い, 次の成果を得た.
1.薄膜レンズの寿命を決める要因である電子線照射による薄膜の汚染を軽減するため, STEMの真空排気系の改造を行った結果, 50時間程度の連続使用によっても顕著な汚染の認められない, 清浄な真空が得られた.
2.薄膜レンズをSTEMのプロブフォーミングレンズの補正に用いたときの特性を, 数値計算により調べた. その結果, プローブフォーミイングレンズ主面付近に薄膜レンズを配置すれば, 従来3次球面収差補正時の分解能を決める要因であった5次球面収差を, 無視できる大きさに抑えられることが分かった. この計算結果に基づき, プローブフォーミイングレンズのポールピース内に組込み可能な薄膜レンズを設計・制作した.
3.薄膜により散乱されて像のバックグラウンドノイズとなる電子を, 試料からの散乱電子を失うことなく減少させるため, 試料の共役面に制限視野絞りを置いた. 薄膜で散乱された電子のうちこの絞りで除かれるものの割合はたとえば視野を37μmに制限する絞りを用いたとき, 約40%であった.
4.補正による像質の向上を定量化するため, 像をデジタル化し, そのSN比を最尤推定法により求めるシステムを開発した.
5.新しく設計した. 薄膜レンズを用いて実際にSTEM像をとり, 像のSN比の変化を測定した. SN比は薄膜レンズの動作により向上し, 球面収差補正によるSTEM像の改善を定量的に実証できた.
6.工作精度の不足によって生ずる非回転対称収差の分解能への影響を, プローブ強度ぶんぷの計算により検討した. その結果, 薄膜レンズの工作精度を10倍向上させることができば, 通常形透過電子顕微鏡に匹敵する分解能のSTEMを実現できることが分かった.

報告書

(2件)
  • 1987 研究成果報告書概要
  • 1986 実績報告書
  • 研究成果

    (26件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (26件)

  • [文献書誌] 日比野 倫夫: 電子顕微鏡. 21. 99-104 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 225-258 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Journal of Electron Microscopy Supplement. 35. 431-432 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 919-920 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 杉山 せつ子: Joural of Electron Microscopy, Supplement. 35. 429-430 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 花井 孝明: Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 307-308 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Journal of Electron Microscopy. 35. 422-425 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 花井 孝明: Ultramicroscopy. 20. 329-336 (1986)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: 日本電子顕微鏡学会分科会予稿集. 5-8 (1987)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 下山 宏: Abstracts of the Hawaii Seminar on Electron Microscopy. 21-22 (1987)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野 倫夫: Proceedings of the 4th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (1988)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Michio Hibino: "Foil Lens - Correction of Spherical Aberration" Journal of Electron Microscopy, Supplentnt. 35. 255-258 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Michio Hibino: "Resolution in Scattering Contrast Imaging by means of Bright and Dark Field STEM" Journal of electron Microsopy, Supplement. 35. 431-432 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Michio Hibino: "Observation of Atomic Nuber Deperdent Contrast Using Signal Manipulation in High Voltage STEM" Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 919-920 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Setsuko Sugiyama: "Calculation of Discrimination Limit in Bright and Dark Field STEM" Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 429-430 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Takaaki Hanai: "A Shadow Image Method for Measurement of Axial Geometrical Aberrations of Proce-Forming Lens" Journal of Electron Microscopy, Supplement. 35. 307-308 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Michio Hibino: "High Voltage Electron Energy Loss Spectroscopy Evaluated from Signal to Noise Ratio" Journal of Electron Microscopy. 35. 422-425 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Takaaki Hanai: "Measurement of Axial Geometrical Aberrations of the Probe-Forming Lens by Means of the Shadow Image of Fine Partiles" Ultramicroscopy. 20. 329-336 (1986)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Hiroshi Shimoyama: "Development of Field Emission Gun for 1 MV Electron Mictoscopy" Abstracts of the Hawaii Seminar on Electron Microscopy. 21-22 (1987)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Michio Hibino: "Reduction of statistical Noise of Electrons in STEM" Proceedings og the 4th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (1988)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1987 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 日比野倫夫: 電子顕微鏡. 21. 99-104 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] M.HIBINO: Journal of Electron Microscopy,Supplement. 35. 255-258 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] M.HIBINO: Journal of Electron Microscopy,Supplement. 35. 431-432 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] M.HIBINO: Journal of Electron Microscopy,Supplement. 35. 919-920 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] S.SUGIYAMA: Journal of Electron Microscopy,Supplement. 35. 429-430 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書
  • [文献書誌] T.HANAI: Ultramicroscopy. 20. 329-336 (1986)

    • 関連する報告書
      1986 実績報告書

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公開日: 1987-03-31   更新日: 2016-04-21  

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