| 研究課題/領域番号 |
62460195
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
金属材料
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
根本 実 九州大学, 工学部, 教授 (90005265)
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| 研究分担者 |
堀田 善治 九州大学, 工学部, 助手 (20173643)
佐野 毅 九州大学, 工学部, 助手 (70037810)
美浦 康宏 九州大学, 工学部, 助教授 (80037879)
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| 研究期間 (年度) |
1987 – 1988
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| 研究課題ステータス |
完了 (1988年度)
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| 配分額 *注記 |
8,300千円 (直接経費: 8,300千円)
1988年度: 400千円 (直接経費: 400千円)
1987年度: 7,900千円 (直接経費: 7,900千円)
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| キーワード | 分析電子顕微鏡 / EDS定量分析 / k因子 / 外挿法 / X線吸収差法 / Ni基二元合金 / Ni-Al-Ta合金状態図 / Ni-Al-Mo三元合金 / Ni-Al-Ta三元合金 / Al-X二元合金 / イオンミリング / 特性X線強度比 / 吸収補正 / 膜厚測定 / ニッケル合金状態図 / 超耐熱合金 / 合金元素の分配 |
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| 研究概要 |
分析電子顕微鏡EDS定量分析法の高精度化と簡略化を試みAl基、Fe基およびNi基合金への応用性について検討した。また、Ni基合金では同分析手法を用いて状態図の作成を行った。
1.信頼性の高い分析結果を得るためにはk因子の正確な決定が必要であり、このk因子は理論的に求めるよりも標準試料を用いて実測した方がよい。k因子を実測する場合、X線検出器によって検出感度が異なり、また同一検出器でも経時変化を伴うために、k因子は分析に使用する装置でしかも一連の分析毎に求め直す必要がある。
2.特性X線の吸収補正に対して外挿法やX線吸収差法を提案した。これらの方法によれば従来必要とされていた膜厚測定を要せず特性X線の測定強度のみで吸収補正ができるために分析精度を損なうことなく分析の迅速化がはかられる。またこのような吸収補正法の改良により全分析過程の電算機処理が可能になり、その場分析が実現されることになった。
3.Al基のAl-Si、Al-CuおよびAl-Ag二元合金の分析では試料表面に添加元素に富んだ層ができ膜厚が薄いときは分析結果に重大な影響を及ぼす。イオンミリングによって表面層を除去するか、解析的に外挿法を利用することによってその影響を小さくすることができる。
4.Ni-Al-Ta三元合金におけるNi側状態図を作成した結果、特に低温側においてr′相領域が高Ni側に張り出し従来のEPMA法により作成された状態図と大きく異なることがわかった。
5.Ni-Al-Mo三元合金中のr/r′二相領域においてMoのrとr′相への分配挙動を調べた結果、Moは低Mo濃度側でr′相に、高濃度側でr相に多く固溶する。Ni-Al-Ta三元合金の場合のTaもMoと同様な挙動を示すことが明らかになった。
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