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1.Co-Ni系薄膜の磁気記録の観察
直流マグネトロンスパッタリング法によって作製されたCo_<70>Ni_<30>薄膜(厚さ600A)の磁気ディスクに、2.5〜38.1kFCIの記録密度で長手方向に記録された磁気記録をコロイド-SEM法によって観察した。膜面に垂直に磁界200Oeを作用させてコロイド模様を作製することにより、再生ディスクノイズの小さな記録の場合は、磁区境界の乱れが少なく、かつ境界幅が狭いことが明らかとなった。従って本方法による磁気記録の観察は、再生ディスクノイズの大小の判定に有効であると結論される。
2.Tb-Fe-Co系薄膜の光磁気記録の観察
直流マグネトロンスパッタリング法によって作製されたTb_<27>Fe_<63>Co_<10>磁気ディスクに、半導体レーザーにより記録された4μmおよび2μmビット長の光磁気記録をコロイド-SEM法により観察した。観察例図1に示す。膜面に垂直な磁界900Oeを作用させて記録模様を作製した(C)では、明瞭な記録状態が観察されている。この方法は、記録ビット形状の直接観察に有効な方法であ る。
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