| 研究課題/領域番号 |
63850153
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| 研究種目 |
試験研究
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
金属材料
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
柴田 俊夫 大阪大学, 工学部, 教授 (90001205)
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| 研究分担者 |
金井 元 エヌエフ回路設計ブロック(株), 技術担当常務取締役
高村 久雄 日新製鋼(株), 新材料研究所, 副所長
藤本 慎司 大阪大学, 工学部, 助手 (70199371)
谷口 滋次 大阪大学, 工学部, 助教授 (50029196)
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| 研究期間 (年度) |
1988 – 1989
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| 研究課題ステータス |
完了 (1989年度)
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| 配分額 *注記 |
9,200千円 (直接経費: 9,200千円)
1989年度: 2,700千円 (直接経費: 2,700千円)
1988年度: 6,500千円 (直接経費: 6,500千円)
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| キーワード | 電気化学インピ-ダンス / 走査インピ-ダンス測定 / 二次元インピ-ダンスマップ / 塗膜欠陥評価 / 走査界面インピーダンス測定 / 微小インピーダンスプローブ / 耐食性皮膜 / 欠陥評価 |
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| 研究概要 |
塗膜や表面皮膜の特性評価にはさまざまな方法が用いられているが、なかでも電気化学インピ-ダンス法は非破壊的に皮膜特性を測定できるため、最近基礎的研究ならびに実際問題への適用が多くなされている。しかしながら上記の方法では対象とする表面積からの平均情報を得るのみであるため、皮膜欠陥や部分的な劣化箇所の分布やその箇所における腐食反応などの評価が困難である。そこで本研究においては、二次元的に走査する微小プロ-ブを用いて界面インピ-ダンス測定を行う、「走査界面インピ-ダンス測定装置」を開発し、これによって塗膜等、表面コ-テング膜の二次元インピ-ダンスマップを測定し、膜中の欠陥分布および欠陥部の腐食速度を同時に測定評価する手法を確立することを目的として研究した。
昭和63年度において、X-Y-Zステ-ジ、周波数特性測定器、ポテンシオスタットからなる走査界面インピ-ダンス測定装置の主要部を試作したので、平成元年度はパ-ソナルコンピュ-タ-式を購入し、走査界面インピ-ダンス測定装置を自動的に走査しデ-タを取り込むとともに、これを処理し、画像として出力するシステムとして完成させた。本装置では、新らたに対極と参照極を複合した微小プロ-ブを開発し、これによって局部的な交流インピ-ダンスを測定することに成功した。開発した走査界面インピ-ダンス測定装置を用いて、人工欠陥を設けた塗膜について、二次元インピ-ダンスマップ測定を行なった結果、200μmの位置分解能で欠陥を検出できた。また加速環境条件下で劣化させた塗膜について、その劣化過程において発生する欠陥の二次元分布およびその時間的変化を検出することに成功した。塗膜の劣化に伴って発生した欠陥はポアッソン分布に従い、また劣化箇所の最大値の分布は極値分布に従うことが明らかとなった。
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