研究領域 | 特異構造の結晶科学:完全性と不完全性の協奏で拓く新機能エレクトロニクス |
研究課題/領域番号 |
16H06419
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研究機関 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
研究代表者 |
小出 康夫 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 技術開発・共用部門, 部門長/理事 (70195650)
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研究分担者 |
井村 将隆 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 機能性材料研究拠点, 主任研究員 (80465971)
廖 梅勇 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 機能性材料研究拠点, 主幹研究員 (70528950)
劉 江偉 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 機能性材料研究拠点, 独立研究者 (30732119)
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研究期間 (年度) |
2016-06-30 – 2021-03-31
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キーワード | ダイヤモンド / ナノラミネート構造 / III族窒化物 / ヘテロ接合 / トランジスタ |
研究実績の概要 |
本研究では窒化物半導体のナノラミネート薄膜特異構造(膜厚1nm 以下に制御した極薄膜2次元多層膜特異構造)を作製しダイヤモ ンド電界効果トランジスタ(FET)のゲート絶縁膜に応用し大電流のスイッチング動作を実現することを目指す。具体的には絶縁体AlN(i-AlN)と導電体GaN(c-GaN)を用いたi-AlN/c-GaN ナノラミネート特異構造を形成し、その微細構造 及び電気的特性を評価するとともにダイヤモンドFETのゲート絶縁膜に応用する。H29年度成果は以下の通りである。 (1)その場膜厚モニターを装備させたALD-MOVPE成長装置の立ち上げを完了し、TMAlとNH3を用いたAlNのALDモードMOVPE成長が可能であることを確認した。 (2)酸化膜シングル層および酸化膜2層スタック層をそれぞれゲートに用いた2種類のダイヤモンドMOSトランジスタをオンチップ上で組わせることによって、しきい値制御された論理集積回路の作製に成功するとともに、同時に300℃までの熱安定性を実証した。 (3)シリコン酸化膜ゲートの可能性を探索するためにA01班藤岡代表グループとの連携研究開始し、NIMSでのデバイスプロセシングと東大でのALDプロセスを組み合わせたデバイス作製プロセス試作に着手した。 (4)O.Auciello米国テキサス大ダラス校教授との共同研究に着手し、共同分担者を派遣して酸化物ナノラミネートゲート構造を作製する双方向プロセスを利用してデバイス作製を行う連携を開始した。
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現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
初年度購入したIII族窒化物AlNおよびGaNを成長させるALD-MOVPE装置は、その場膜厚モニター用エリプソメータを装備する形で立ち上げを完了し、AlNのALDモードMOVPE成長に成功している。H30年度においては、AlN/GaNナノラミネート構造の試作が可能になる予定である。一方、酸化物スタックゲート構造を用いたダイヤモンドMOSトランジスタは、ノーマリオン/オフ制御原理を発見するとともに論理回路の試作に成功し、300℃までの熱安定性を実証しており、H29年度の主要成果として登録した。
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今後の研究の推進方策 |
米国テキサス大ダラス校のOrland Auchiello教授グループに研究分担者である劉独立研究者が一か月間滞在することによって、ALD装置を持ちいてTiO2/Al2O3ナノラミネート膜ゲート構造を作製し、NIMSに帰ってからMOSトランジスタを完成させるプロセス共同研究を実施する。国際共同連携を通して酸化物ナノラミートゲート構造の実証実験を試みることに着手し研究加速を計画している。
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