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2017 年度 実績報告書

特異構造を含む異種接合の界面制御と電子デバイス展開

計画研究

研究領域特異構造の結晶科学:完全性と不完全性の協奏で拓く新機能エレクトロニクス
研究課題/領域番号 16H06421
研究機関北海道大学

研究代表者

橋詰 保  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 教授 (80149898)

研究分担者 赤澤 正道  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 准教授 (30212400)
佐藤 威友  北海道大学, 量子集積エレクトロニクス研究センター, 准教授 (50343009)
研究期間 (年度) 2016-06-30 – 2021-03-31
キーワードGaN / AlGaN / 異種接合 / 電子準位 / 周期的ナノチャネル / 電気化学エッチング
研究実績の概要

種々の特異構造を内包するGaN系異種接合界面電気的評価を行い、化学的・構造的・光学的評価と連携させて電子捕獲準位の成因を理解し、混晶異種接合に立脚した新機能素子の実現に貢献する。さらに、極性制御ナノチャネル構造および微細孔構造を形成し、新機能トランジスタ・超低抵抗通電素子・ワイドレンジ光吸収素子に展開する。本年度の主な成果を以下にまとめる。

1)誘導結合プラズマ(ICP)ドライエッチングによりn-GaN表面を数100nmエッチングし、Al2O3膜を利用したMOS構造を作製することによって、GaN表面に導入される表面欠陥の評価を行った。容量―電圧(CV)測定結果に厳密数値計算を適用することで、伝導帯下端から0.1eVおよび0.6eVのエネルギー位置に比較的高密度の準位が検出された。これらの準位密度はバイアス電力に強く依存し、表面近傍(50nm以内)に局在することが明らかになった。また、900℃のアニールによって密度は低減するが、完全に回復させることはできなかった。
2)周期的ナノチャネルを有するAlGaN/GaN異種構造を用い、電界効果トランジスタを作製した。通常のプレーナー型トランジスタと比較して、ドレイン電流密度の増加と電流線形性の向上が観測された。3次元デバイスシミュレータによる解析により、ナノチャネル内部で電界強度が増強する可能性が示された。
3)パルス光照射電気化学プロセスを開発し、GaNおよびAlGaN表面のエッチングを行った。光ON状態で明瞭な電気化学的反応電流が観測され、光励起正孔が電解液/GaN界面に供給されて酸化反応が生じたことを示している。一方、光OFFの期間に酸化反応を一時的に停止させることで、均一な酸化膜形成が可能となった。形成した酸化膜をアルカリ溶液で除去することにより、平坦性に優れたエッチングを実現した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

1)異種接合のCV解析による電子捕獲準位の評価、2)周期的ナノチャネルを有するトランジスタの作製と評価、3)電気化学プロセスによるGaNおよびAlGaN表面のエッチングを研究目標に置いた。
MOS構造の詳細CV解析により、ドライエッチングでGaN表面近傍に導入された電子捕獲準位を検出し、準位密度はバイアス電力に強く依存することと表面近傍(50nm以内)に局在することが明らかになった。次に、周期的ナノチャネルを持つAlGaN/GaN HEMTでドレイン電流密度の増加と電流線形性の向上が観測され、電界強度向上との関連性が示唆された。さらに、パルス光照射電気化学プロセスによりGaNおよびAlGaNのエッチングを行い、平坦性・低損傷性に優れた結果が得られ、プロセス誘起欠陥除去に展開可能であることが示された。以上より、予定の研究計画がおおむね順調に進展していると判断できる。

今後の研究の推進方策

平成29年度の成果を踏まえ、今後は以下の方針で研究を行う。異種接合構造の電子準位評価では、1000℃以上の高温アニールを受けた表面層の解析を行う。電子準位の起源を明らかにするとともに、電極形成後の低温長時間アニールや低損傷電気化学プロセスを組み合わせた電子準位制御プロセスを開発する。また、無極性のm面GaNに接合を形成し、電気的特性を詳細に評価する。特に、MOSゲート構造を作製した場合、有極性のc面と無極性のm面で、界面準位密度分布、フラットバンド電圧安定性、温度安定性に違いが生じるかどうかに着目する。また、3次元デバイスシミュレータを用いて、ナノチャネル領域のポテンシャル分布、電界分布、および実効電子速度を計算し、実験結果と比較することにより、実験で得られた現象の機構解明を行う。

  • 研究成果

    (22件)

すべて 2018 2017 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち国際共著 2件、 査読あり 5件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (16件) (うち国際学会 7件、 招待講演 4件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Effects of Air-annealing on DC Characteristics of InAlN/GaN MOS-HEMTs Using ALD-Al2O32017

    • 著者名/発表者名
      S. Ozaki, K, Makiyama, T, Ohki, N, Okamoto, S, Kaneki, K, Nishiguchi, N, Hara and T, Hashizume
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Express

      巻: 10 ページ: 061001-1-4

    • DOI

      10.7567/APEX.10.061001

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Precise thickness control in recess etching of AlGaN/GaN hetero-structure using photocarrier-regulated electrochemical process2017

    • 著者名/発表者名
      Kumazaki Yusuke、Uemura Keisuke、Sato Taketomo、Hashizume Tamotsu
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 121 ページ: 184501~184501

    • DOI

      10.1063/1.4983013

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Influence of oxygen-plasma treatment on AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor heterostructure field-effect transistors with HfO2by atomic layer deposition: leakage current and density of states reduction2017

    • 著者名/発表者名
      R. Stoklas, D. Greguov, M. Blaho, K. Fr;hlich, J. Novk, M. Matys, Z. Yatabe, P. Kordos and T. Hashizume
    • 雑誌名

      Semicond. Sci. Technol.

      巻: 32 ページ: 045018~045018

    • DOI

      10.1088/1361-6641/aa5fcb

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Current linearity and operation stability in Al2O3-gate AlGaN/GaN MOS-HEMTs2017

    • 著者名/発表者名
      K. Nishiguchi, S. Kaneki, S. Ozaki and T. Hashizume
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 56 ページ: 101001-1-8

    • DOI

      10.7567/JJAP.56.101001

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Disorder induced gap states as a cause of threshold voltage instabilities in Al2O3/AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor high-electron-mobility transistors2017

    • 著者名/発表者名
      Matys M.、Kaneki S.、Nishiguchi K.、Adamowicz B.、Hashizume T.
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 122 ページ: 224504~224504

    • DOI

      10.1063/1.5000497

    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] 高温アニールがAl2O3/GaN 界面特性に及ぼす影響2018

    • 著者名/発表者名
      及木 達矢、橋詰 保
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
  • [学会発表] Al2O3-gate AlGaN/GaN MOS HEMTの動作安定性2018

    • 著者名/発表者名
      安藤 祐次、金木 奨太、西口 賢弥、橋詰 保
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
  • [学会発表] Improved wet-etching processes for GaN-based electron devices2017

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, K. Uemura and T. Hashizume
    • 学会等名
      2017 Materials Research Society Fall Meeting
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] GaN系半導体のMOS界面制御2017

    • 著者名/発表者名
      橋詰保
    • 学会等名
      日本学術振興会第162委員会第103回研究会
    • 招待講演
  • [学会発表] GaN系トランジスタにおける界面制御2017

    • 著者名/発表者名
      橋詰保
    • 学会等名
      応用物理学会応用電子物性分科会研究会
    • 招待講演
  • [学会発表] GaN MIS界面とトランジスタ応用~これまでのⅢ-V MIS界面と違いはあるのか~2017

    • 著者名/発表者名
      橋詰保
    • 学会等名
      日本結晶成長学会・ナノ構造・エピタキシャル成長分科会・第9回講演会
    • 招待講演
  • [学会発表] Improved MOS gate control in Al2O3/AlGaN/GaN HEMTs with reverse-bias annealing2017

    • 著者名/発表者名
      Kenya Nishiguchi, Syota Kaneki, Tamotsu Hashizume
    • 学会等名
      12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
    • 国際学会
  • [学会発表] Precise thickness control in recess-etching for normally-off AlGaN/GaN HEMTs using a low damage photo-electrochemical reaction2017

    • 著者名/発表者名
      Taketomo Sato, Keisuke Uemura, Yusuke Kumazaki, Tamotsu Hashizume
    • 学会等名
      12th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-12)
    • 国際学会
  • [学会発表] Correlation between VTH instability and interface states in Al2O3/AlGaN/GaN Structures2017

    • 著者名/発表者名
      Shota Kaneki, Zenji Yatabe, Tamotsu Hashizume
    • 学会等名
      12th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM-2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] Analysis of temperature dependent frequency dispersion in C-V curves of Al2O3/AlGaN/GaN structures based on the disorder-induced gap-state model2017

    • 著者名/発表者名
      M. Matys, S.Kaneki, B. Adamowicz, J. Kuzmik and T. Hashizume
    • 学会等名
      12th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM-2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] Transient-mode simulation of MOS C-V characteristics for GaN2017

    • 著者名/発表者名
      Koichi Fukuda, Hidehiro Asai, Junichi Hattori, Mitsuaki Shimizu and Tamotsu Hashizume
    • 学会等名
      2017 International Conference on Solid-State Devices and Materials (SSDM2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] Fast Switching Performance by 20 A/730 V AlGaN/GaN MIS-HFET Using AlON Gate Insulator2017

    • 著者名/発表者名
      S. Nakazawa, H.-A. Shih, N. Tsurumi, Y. Anda, T. Hatsuda, T. Ueda, M. Nozaki, T. Yamada, T. Hosoi, T. Shimura, H. Watanabe, and T. Hashizume
    • 学会等名
      63rd. International Electron devices Meeting (IEDM-2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] Al2O3/GaN 構造の界面制御プロセス2017

    • 著者名/発表者名
      金木 奨太、西口 賢弥、橋詰 保
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] MOS構造によるGaN表面のICPエッチング誘起欠陥の評価2017

    • 著者名/発表者名
      及木 達矢、西口 賢弥、山田 真嗣、桜井 秀樹、上村 隆一郎、長田 大和、加地 徹、橋詰 保
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] 光電気化学反応を利用したn-GaN表面層の低損傷エッチング2017

    • 著者名/発表者名
      松本 悟、佐藤 威友、成田 哲生、加地 徹、橋詰 保
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] 光電気化学(PEC)反応を利用したリセスゲートAlGaN/GaN HEMTの作製2017

    • 著者名/発表者名
      植村 圭佑、佐藤 威友、橋詰 保
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
  • [備考] 北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター

    • URL

      http:// www.rciqe.hokudai.ac.jp

URL: 

公開日: 2018-12-17  

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