• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2010 年度 研究成果報告書

RF-MBE法によるInNおよび関連混晶の成長と量子ナノ構造の形成

計画研究

  • PDF
研究領域窒化物光半導体のフロンティア-材料潜在能力の極限発現-
研究課題/領域番号 18069012
研究種目

特定領域研究

配分区分補助金
審査区分 理工系
研究機関立命館大学

研究代表者

名西 やす之  立命館大学, 理工学部, 教授 (40268157)

研究分担者 荒木 努  立命館大学, 理工学, 准教授 (20312126)
直井 弘之  立命館大学, COE推進機構, ポストドクトラルフェロー (10373101)
HYUNSEOK Na  立命館大学, COE推進機構, ポストドクトラルフェロー (80411239)
連携研究者 山口 智広  立命館大学, 総合理工学研究機構, ポストドクトラルフェロー (50454517)
金子 昌充  立命館大学, 総合理工学研究機構, ポストドクトラルフェロー (70374709)
研究協力者 王 科  立命館大学, 総合理工学研究機構, 日本学術振興会特別研究員
研究期間 (年度) 2006 – 2010
キーワードInN / RF-MBE / 窒化物半導体 / ナノ構造
研究概要

RF-MBE法を駆使して、InN系窒化物半導体結晶成長における本質的課題の解決を目指した。再成長やナノコラム成長による貫通転位密度低減技術を開発した。またDERI法の開発により、再現性よく低キャリア濃度の厚膜InNを得られるようになった他、新しいInN/InGaNヘテロ構造、InGaN厚膜作製技術を開発した。無極性面InNの結晶成長技術開発にも成功した。さらにMgセル温度、構造の最適化、DERI法の応用などにより、再現性よくMgドープp型InN成長に成功した。

  • 研究成果

    (13件)

すべて 2011 2010 2009 2008 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (5件) 図書 (1件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] Application of Droplet Elimination Process by Radical -Beam Irradiation to InGaN Growth and Fabrication of InN/InGaN Periodic Structure2011

    • 著者名/発表者名
      T.Yamaguchi, H.Umeda, T.Araki, Y.Nanishi
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. 50巻

      ページ: 04DH08/1-04DH08/4

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Mg Doped InN and Confirmation of Free Holes in InN2011

    • 著者名/発表者名
      K.Wang, N.Miller, R.Iwamoto, T.Yamaguchi, M.A.Mayer, T.Araki, Y.Nanishi, K.M.Yu, E.E.Haller, W.Walukiewicz, J.W.Ager III
    • 雑誌名

      Appl.Phys.Lett. 98巻

      ページ: 042104/1-042104/3

    • 査読あり
  • [雑誌論文] In situ Investigation of Growth Mechanism during Molecular Beam Epitaxy of In-Polar InN2011

    • 著者名/発表者名
      K.Wang, T.Yamaguchi, T.Araki, E.Yoon, Y.Nanishi
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. 50巻

      ページ: 01AE02/1-01AE02/4

    • 査読あり
  • [雑誌論文] New MBE Growth Method for High Quality InN and Related Alloys Using in Situ Monitoring Technology2010

    • 著者名/発表者名
      T.Yamaguchi, Y.Nanishi
    • 雑誌名

      phys.stat.sol.(a) 207巻

      ページ: 19-23

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Indium Droplet Elimination by Radical Beam Irradiation for Reproducible and High-Quality Growth of InN by RF Molecular Beam Epitaxy2009

    • 著者名/発表者名
      T.Yamaguchi, Y.Nanishi
    • 雑誌名

      Applied Physics Express 2巻

      ページ: 051001-1-"051001-3"

    • 査読あり
  • [学会発表] Recent Progress in Growth and Characterization of InN and Related Alloys and Those Nano-structures2011

    • 著者名/発表者名
      Y.Nanishi, T.Yamaguchi, K.Wang, T.Araki
    • 学会等名
      Workshop on Frontier Photonic and Electronic Materials and Devices 2011 German-Japanese-Spanish Joint Workshop
    • 発表場所
      グラナダ(スペイン)(招待講演)
    • 年月日
      2011-03-17
  • [学会発表] Growth and Fabrication of InN-based III-nitride Structure Using Droplet Elimination Process by Radical Beam Irradiation2011

    • 著者名/発表者名
      T.Yamaguchi, Y.Nanishi
    • 学会等名
      SPIE Photonic West 2011
    • 発表場所
      サンフランシスコ(アメリカ)(招待講演)
    • 年月日
      2011-01-24
  • [学会発表] Recent Progress in Growth and Characterization of InN and Related Alloys and Challenges for Device Applications2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Nanishi, T.Yamaguchi, K.Wang, T.Araki, M.Kaneko, E.Yoon, N.Miller, J.W.Ager III, K.M.Yu, W.Walukiewicz
    • 学会等名
      The International Workshop on Nitride semiconductors (IWN2010)
    • 発表場所
      タンパ(アメリカ)(基調講演)
    • 年月日
      2010-09-21
  • [学会発表] Present Status and New Challenges of Nitride Semiconductors for Advanced Electronic Devices2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Nanishi, T.Yamaguchi
    • 学会等名
      2009 E-MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      ワルシャワ(ポーランド)(招待講演)
    • 年月日
      2009-09-16
  • [学会発表] Recent Progress of InN and InGaN Growth for Device Applications2008

    • 著者名/発表者名
      Y.Nanishi, T.Araki, T.Yamaguchi, D.Muto
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride semiconductors (IWN2008)
    • 発表場所
      モントルー(スイス)(招待講演)
    • 年月日
      2008-10-09
  • [図書] Chapter : 1-Molecular-beam epitaxy of InN in Indium Nitride and Related Alloys (Editors : T.D.Veal, C.F.McConville, and W.J.Schaff)2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Nanishi, T.Araki, T.Yamaguchi
    • 総ページ数
      50
    • 出版者
      CRC
  • [備考] ホームページ等

    • URL

      http://www.ritsumei.ac.jp/se/re/nanishilab/Nanishi-Lab.html

  • [産業財産権] 窒化物半導体薄膜の製造方法2009

    • 発明者名
      山口智広, 名西〓之
    • 権利者名
      学校法人立命館
    • 産業財産権番号
      新規性の喪失の例外適用,2009-119315
    • 出願年月日
      2009-05-15

URL: 

公開日: 2012-02-13   更新日: 2021-04-07  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi