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2009 年度 自己評価報告書

表面機能元素の制御と原子構造解析

計画研究

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研究領域機能元素のナノ材料科学
研究課題/領域番号 19053006
研究種目

特定領域研究

配分区分補助金
審査区分 理工系
研究機関大阪大学

研究代表者

森田 清三  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (50091757)

研究期間 (年度) 2007 – 2011
キーワード原子間力顕微鏡 / 表面機能元素 / 元素識別 / 原子構造解析 / フォース・スペクトロスコピー / 原子操作 / AFM / STM同時測定 / 局所的接触電位差(LCPD)
研究概要

機能元素析出を人工的に制御・作成し、原子レベルでの物性評価を行うことで、新研究分野の開拓を行う。具体的には、我々の独自技術である原子間力顕微鏡(AFM)を用いた交換型原子操作によって、特定の原子を一箇所に集めて人工的に機能元素のナノ析出状態を作成する。さらに、アトムトラッキング法を用いた高精度・高感度なフォース・スペクトロスコピーにより特定位置のドーパント(機能元素)の結合エネルギーや結合距離や化学結合効果の情報を抽出する。また、共通試料におけるドーパント操作技術を確立させ、表面に析出したナノ機能元素の物理を明らかにする。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2009 2008 2007 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 図書 (1件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] New insights on atomic-resolution frequency-modulated Kelvin用robe force洋icroscopy imaging of semiconductors2009

    • 著者名/発表者名
      S. Sadewasser, P. Jelinek, C.-K. Fang, O. Custance, Y. Yamada, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
    • 雑誌名

      Phys. Rev. Lett. Vol.103

      ページ: 266103,4

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Atomic force microscopy as a tool for atom manipulation2009

    • 著者名/発表者名
      O. Custance, R. Perez, S. Morita
    • 雑誌名

      Nature Nanotechnology Vol.4

      ページ: 803-810

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Complex Patterning by Vertical Interchange Atom Manipulation Using Atomic Force Microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Sugimoto, P. Pou, O. Custance, P. Jelinek, M. Abe, R. Perez, S. Morita
    • 雑誌名

      Science Vol.322

      ページ: 413-417

    • 査読あり
  • [雑誌論文] How to Move an Atom2008

    • 著者名/発表者名
      O. Custance, S. Morita
    • 雑誌名

      Science Vol.319

      ページ: 1051-1052

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Evidence of subsurface oxygen vacancy ordering on reduced CeO2(111)2007

    • 著者名/発表者名
      S. Torbrugge, M. Reichling, A. Ishiyama, S. Morita, O. Custance
    • 雑誌名

      Phys. Rev. Lett. Vol.99

      ページ: 056101,4

    • 査読あり
  • [図書] Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 22009

    • 著者名/発表者名
      S. Morita, F.J. Giessibl, R. Wiesendanger
    • 総ページ数
      401
    • 出版者
      Springer-Verlag
  • [備考]

    • URL

      http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/

  • [産業財産権] 原子間力顕微鏡及びそれを用いた相互作用力測定法2008

    • 発明者名
      大田昌弘, 大藪範昭, 阿部真之, オスカル・クスタンセ, 杉本宜昭, 森田清三
    • 権利者名
      株式会社島津製作所および国立大学法人大阪大学
    • 産業財産権番号
      特許・PCT/JP2008/000001
    • 出願年月日
      2008-01-07

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公開日: 2011-06-18   更新日: 2016-04-21  

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