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2017 年度 実績報告書

SOI 3次元ピクセルプロセスの研究

計画研究

研究領域3次元半導体検出器で切り拓く新たな量子イメージングの展開
研究課題/領域番号 25109002
研究機関大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構

研究代表者

新井 康夫  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 特別教授 (90167990)

研究分担者 倉知 郁生  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, その他部局等, 特別教授 (00533944)
三好 敏喜  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 素粒子原子核研究所, 研究機関講師 (20470015)
井田 次郎  金沢工業大学, 工学部, 教授 (60506450)
研究期間 (年度) 2013-06-28 – 2018-03-31
キーワード半導体 / Silicon On Insulator / 放射線センサ / 先端機能デバイス / 微細加工プロセス / 量子線イメージング / 3次元積層
研究実績の概要

平成29年度は最終年度で、SOIプロセス及び各種検出器の完成を目指した。多くのチップを一緒にプロセスするMPWランを6月及び11月に行い、他の研究班がサブミットした検出器を含め完成させた。但し、2回目のMPWランにおいて想定外のトラブルが起こり製造が3ケ月遅延してしまったが、予算の一部繰り越しが認められ、研究員を3ヶ月雇用延長することにより、当初予定していた検出器試験・評価をほぼ完了する事が出来た。
我々が開発した2層SOIウエハ(DSOI)技術により、これまで問題があった干渉・放射線耐性等の課題を解決する事が出来たが、新たにDSOIウエハの製造及び品質上の問題が顕在化してきた。この解決を目指し、Technology CAD (TCAD)を用い、新しいセンサ構造Pinned Depleted Diode (PDD)を開発すした。この結果、リーク電流を1.5桁低減し、ノイズレベルも8.5電子まで減少させる事が出来た。
Si基板をさらに積層する3次元垂直積層技術の開発も進み、これまで30um角領域を必要としていたピクセル回路機能を、20um角(面積44%)のサイズに納める事が出来、さらなる微小画素化に道をつけた。また新しい素子であるSuper Steep Transistorも性能向上が進み、超低消費電力回路への応用が広がった。
International Linear Collider (ILC)実験用に開発しているSOFIST検出器では、米国Fermi研究所の120GeV/c陽子ビームを使った実験結果から、1.2umの位置分解能と2.2usの時間分解能を同時に達成出来た。これまでモノリシック検出器で、この性能での位置と時間の同時測定が達成されたことはなく、世界初の成果である。
また、フランス、ポーランド、中国からの研究者を受け入れる事で国際協力も進展した。

現在までの達成度 (段落)

平成29年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

平成29年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (22件)

すべて 2018 2017 2013 その他

すべて 国際共同研究 (3件) 雑誌論文 (8件) (うち査読あり 8件) 学会発表 (5件) (うち国際学会 5件、 招待講演 5件) 図書 (1件) 備考 (2件) 産業財産権 (2件) 学会・シンポジウム開催 (1件)

  • [国際共同研究] IPHC/IN2P3(フランス)

    • 国名
      フランス
    • 外国機関名
      IPHC/IN2P3
  • [国際共同研究] IHEP(中国)

    • 国名
      中国
    • 外国機関名
      IHEP
  • [国際共同研究] AGH Univ. of Science and Technology(ポーランド)

    • 国名
      ポーランド
    • 外国機関名
      AGH Univ. of Science and Technology
  • [雑誌論文] Fine-Pixel Detector FPIX Realizing Sub-micron Spatial Resolution Developed Based on FD-SOI Technology2018

    • 著者名/発表者名
      Sekigawa Daisuke、Endo Shun、Aoyagi Wataru、Hara Kazuhiko、Honda Shunsuke、Tsuboyama Toru、Yamada Miho、Ono Shun、Togawa Manabu、Ikegmi Yoichi、Arai Yasuo、Kurachi Ikuo、Miyoshi Toshinobu、Haba Junji、Hanagki Kazunori
    • 雑誌名

      Springer Proceedings in Physics

      巻: - ページ: 331~338

    • DOI

      10.1007/978-981-13-1316-5_62

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Recent Developments of SOI Pixel Devices2018

    • 著者名/発表者名
      Hara Kazuhiko、Sekigawa Daisuke、Endo Shun、Aoyagi Wataru、HONDA Shunsuke、Tsuboyama Toru、Yamada Miho、Ono Shun、Togawa Manabu、Ikegami Yoichi、Arai Yasuo、Kurachi Ikuo、MIYOSHI Toshinobu、Haba Jinji、Hanagaki Kazunori
    • 雑誌名

      Proceedings of Science

      巻: PoS(Vertex 2017)035 ページ: 1~9

    • DOI

      10.22323/1.309.0035

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of monolithic pixel detector with SOI technology for the ILC vertex detector2018

    • 著者名/発表者名
      Yamada M.、Ono S.、Tsuboyama T.、Arai Y.、Haba J.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Togawa M.、Mori T.、Aoyagi W.、Endo S.、Hara K.、Honda S.、Sekigawa D.
    • 雑誌名

      Journal of Instrumentation

      巻: 13 ページ: C01037~C01037

    • DOI

      10.1088/1748-0221/13/01/C01037

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Diode Characteristics of a Super-Steep Subthreshold Slope PN-Body Tied SOI-FET for Energy Harvesting Applications2018

    • 著者名/発表者名
      Mori Takayuki、Ida Jiro、Momose Shun、Itoh Kenji、Ishibashi Koichiro、Arai Yasuo
    • 雑誌名

      IEEE Journal of the Electron Devices Society

      巻: 6 ページ: 565~570

    • DOI

      10.1109/JEDS.2018.2824344

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Performance study of double SOI image sensors2018

    • 著者名/発表者名
      Miyoshi T.、Arai Y.、Fujita Y.、Hamasaki R.、Hara K.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Nishimura R.、Ono S.、Tauchi K.、Tsuboyama T.、Yamada M.
    • 雑誌名

      Journal of Instrumentation

      巻: 13 ページ: C02005~C02005

    • DOI

      10.1088/1748-0221/13/02/C02005

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Front-end electronics of double SOI X-ray imaging sensors2017

    • 著者名/発表者名
      Miyoshi T.、Arai Y.、Fujita Y.、Hara K.、Ikegami Y.、Kurachi I.、Tauchi K.、Tsuboyama T.、Yamada M.、Ono S.、Nishimura R.、Hamasaki R.
    • 雑誌名

      Journal of Instrumentation

      巻: 12 ページ: C02004~C02004

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/02/C02004

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Performance of the INTPIX6 SOI pixel detector2017

    • 著者名/発表者名
      Arai Y.、Bugiel Sz.、Dasgupta R.、Idzik M.、Kapusta P.、Kucewicz W.、Miyoshi T.、Turala M.
    • 雑誌名

      Journal of Instrumentation

      巻: 12 ページ: C01028~C01028

    • DOI

      10.1088/1748-0221/12/01/C01028

    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Low-Noise X-ray Astronomical Silicon-On-Insulator Pixel Detector Using a Pinned Depleted Diode Structure2017

    • 著者名/発表者名
      Kamehama Hiroki、Kawahito Shoji、Shrestha Sumeet、Nakanishi Syunta、Yasutomi Keita、Takeda Ayaki、Tsuru Takeshi、Arai Yasuo
    • 雑誌名

      Sensors

      巻: 18 ページ: 27~27

    • DOI

      10.3390/s18010027

    • 査読あり
  • [学会発表] Activities on SOI Monolithic X-Ray Imaging Detectors2018

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Arai
    • 学会等名
      Gordon Research Conference
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Activities on Silicon-On-Insulator Detectors2018

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Arai
    • 学会等名
      The 1st Workshop on Quantum Beam Imaging
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] SOIPIX: Status & Perspectives, ~ ILC vertex detector & 3D Integration ~2018

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Arai
    • 学会等名
      International workshop on the high energy Circular Electron-Positron Collider
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] High Resolution SOI Pixel Detector2017

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Arai
    • 学会等名
      International Symposium HSTD11 & SOIPIX2017
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] SOI monolithic pixel technology for radiation image sensor2017

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Arai
    • 学会等名
      2017 IEEE Electron Device Meeting (IEDM17)
    • 国際学会 / 招待講演
  • [図書] Radiation Imaging Detectors Using SOI Technology2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Arai and I. Kurachi
    • 総ページ数
      71
    • 出版者
      Morgan & Claypool Publisher
    • ISBN
      978-1627056960
  • [備考] SOI Pixel Detector R&D

    • URL

      http://rd.kek.jp/project/soi/

  • [備考] 3次元半導体検出器で切り拓く新たな量子イメージングの展開

    • URL

      https://soipix.jp

  • [産業財産権] 半導体装置2017

    • 発明者名
      新井康夫、葛西大樹、沖原将生
    • 権利者名
      新井康夫、葛西大樹、沖原将生
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      特願2017-101258
  • [産業財産権] 半導体装置の製造方法2013

    • 発明者名
      新井康夫、葛西大樹、沖原将生
    • 権利者名
      新井康夫、葛西大樹、沖原将生
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      第6202515号
  • [学会・シンポジウム開催] 11th International “Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking Detectors (HSTD11) in conjunction with 2nd Workshop on SOI Pixel Detector (SOIPIX2017)2017

URL: 

公開日: 2019-12-27  

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