| 研究領域 | 3次元半導体検出器で切り拓く新たな量子イメージングの展開 |
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| 研究課題/領域番号 |
25109007
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| 研究種目 |
新学術領域研究(研究領域提案型)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 審査区分 |
理工系
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| 研究機関 | 国立研究開発法人理化学研究所 |
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研究代表者 |
初井 宇記 国立研究開発法人理化学研究所, 放射光科学総合研究センター, チームリーダー (40332176)
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| 研究分担者 |
阿部 利徳 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 光源基盤部門, 研究員 (10570187)
寺西 信一 兵庫県立大学, 付置研究所, 特任教授 (20738893)
工藤 統吾 公益財団法人高輝度光科学研究センター, その他部局等, 主幹研究員 (40372148)
桐原 陽一 国立研究開発法人理化学研究所, 放射光科学総合研究センター, 特別研究員 (30584536)
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| 連携研究者 |
亀島 敬 公益財団法人高輝度光科学研究センター, XFEL推進室, 研究員 (50558046)
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| 研究期間 (年度) |
2013-06-28 – 2018-03-31
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| キーワード | 検出器 / 検出 / X線 / 半導体 / CMOS |
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| 研究成果の概要 |
X線自由電子レーザー（XFEL)を利用した構造解析は化学反応、生体分子の反応で重要なフェムト秒スケールの構造変化を追跡できる極めて有力な手法である。しかしながら散乱角の小さな極めて強いX線回折パターンと広角散乱部分の1光子に満たない極めて弱い散乱パターンを同時に、かつXFELの繰り返し周波数と同じフレームレートで高速に撮像する必要がある。これまでは技術的制約からこの目的に合致した検出器は存在しなかった。本計画班では新たに発明した電荷分割方式による高ダイナミックレンジ化を実現した検出器SOPHIASを開発し、この課題の解決に成功した。
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| 自由記述の分野 |
X線科学
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