| 研究領域 | 分子アーキテクトニクス：単一分子の組織化と新機能創成 |
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| 研究課題/領域番号 |
25110012
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| 研究種目 |
新学術領域研究(研究領域提案型)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 審査区分 |
理工系
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
夛田 博一 大阪大学, 基礎工学研究科, 教授 (40216974)
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| 研究分担者 |
田中 彰治 分子科学研究所, 安全衛生管理室, 助教 (20192635)
山田 亮 大阪大学, 基礎工学研究科, 准教授 (20343741)
大戸 達彦 大阪大学, 基礎工学研究科, 助教 (90717761)
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| 研究期間 (年度) |
2013-06-28 – 2018-03-31
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| キーワード | 単一分子エレクトロニクス / 分子接合 / ブレークジャンクション / 分子ダイオード / 磁気抵抗効果 |
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| 研究成果の概要 |
メカニカルコントラーブルブレークジャンクション（MCBJ）法および走査トンネル顕微鏡ブレークジャンクション（STMBJ）法を用いて単一分子接合の電流ー電圧特性、熱起電力、磁気抵抗効果を計測した。カルバゾーオリゴマーの分子接合では、電界により分子軌道が変化し、左右電極との接続強度が非対称となり整流特性が発現した。ニッケルを電極した接合では、磁気抵抗効果特性が確認され、電圧印加方向による磁気抵抗比の変化を確認した。熱起電力測定では、電極として金を用いた場合とニッケルを用いた場合で、ゼーベック係数の負号が変わることを確認した。分子のアンカー部の官能基によっても負号が代わり、接合構造の重要性を示した。
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| 自由記述の分野 |
分子エレクトロニクス
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