| 研究課題/領域番号 |
01460258
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| 研究機関 | 東京理科大学 |
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研究代表者 |
石田 興太郎 東京理科大学, 理工学部, 教授 (30012404)
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| 研究分担者 |
桃沢 信幸 東京理科大学, 理工学部, 助手 (60084464)
加藤 弘之 東京理科大学, 理工学部, 助手 (80084482)
梅沢 喜久夫 東京理科大学, 理工学部, 助手 (00084484)
三田 優 東京理科大学, 理工学部, 教授 (50084439)
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| キーワード | 低温X線回折 / X線磁気散乱 / 六方晶フェライト / 低温試料台 / フェリ磁性 |
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| 研究概要 |
今年度の主なる目標は通常のX線発生装置につける低温試料台の作成とその検査、及び高エネルギ-研究所の放射光によるX線磁気散乱ピ-クの検出であった。
1.六方晶の試料の成分比を変えた育成は各種用意できた。
2.低温試料台は低温になることは確認できたが、回折計との連結にはもう少し検討が必要である。
3.別に標準的試料として米国よりDy単結晶を購入、現在これの基礎測定を準備中である。
4.放射光実験のため、90°の偏光を分離できるアナライザ-分光器を作成した。
5.上述の分光器を用いて1990年2月23日〜3月5日まで放射光施設4Cのビ-ムラインで実験を行った。
結果は
(1)低温試料台は30KーR.T.まで回折ピ-クを測定できた。
(2)六方晶フェライトを用いて、50Kで各ピ-クの測定を行った。
(3)目標の磁気散乱は009^-、009^+、0012^-、0012^+等を探したが、009^-については、磁気散乱と思われる弱いピ-クを測定した。
(4)上述の009^-のピ-クを、偏光アナライザ-分光器(LiF結晶)で、入射光より90°回転している偏光で測定したところ、008がきれいに消滅したのに磁気散乱と思われるピ-クは依然残っていた。
(5)(4)の実験より今回検出したピ-クは六方晶フェライトのヘリカル構造によるX線磁気散乱と思われる。そのピ-ク位置は中性子の測定(77K以上)より外挿した所にあった。
平成2年度には、この実験の延長として、スピンのロックインなどの実証を目標にする。
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