研究課題/領域番号 |
01550068
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研究機関 | 横浜国立大学 |
研究代表者 |
安藤 柱 横浜国立大学, 工学部, 助教授 (40017992)
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研究分担者 |
酒井 譲 横浜国立大学, 工学部, 助手 (90114975)
小倉 信和 横浜国立大学, 工学部, 教授 (10017949)
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キーワード | 窒化ケイ素 / 破壊じん性 / 微小き裂 / 非線形破壊力学 / プロセスゾ-ン / 確率 / 切欠先端半径 / 破壊評価線図 |
研究概要 |
(1)構造用セラミックス4種類のじん性値のき裂長さ及び切欠先端半径依存性に関する既往のデ-タ-を収集して、解析し、破壊評価線図を作成した。 (2)セラミックスのための新しい破壊のクライテリオン「プロセスゾ-ン寸法」を提案した。これにより、上記セラミックスのじん性値のき裂長さ及び切欠先端半径依存性を定量的に評価できることを明らかにした。 (3)窒化ケイ素のじん性値のき裂長さ依存性を系統的に調査した。又その特性は上記のプロセスゾ-ン寸法破壊基準で合理的に説明できることが分った。 (4)窒化ケイ素及びアルミナのKicと曲げ破壊応力の統計的性質を調査した。又この結果に基づいて確率の概念を組込んだ破壊評価線図を提案した。 (5)窒化ケイ素試験片の破面を詳細に調査し、前記プロセスゾ-ン寸法破壊基準の妥当性を破壊機構面から吟味した。 (6)破壊の起点となった介在物の種類と寸法を詳細に調査した。又、介在物周辺に形成されたミラ-寸法を詳細に調査し、その生成機構を破壊力学的に検討した。
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