| 研究課題/領域番号 |
01850003
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| 研究種目 |
試験研究
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
応用物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
小林 孝嘉 東京大学, 理学部, 助教授 (60087509)
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| 研究分担者 |
打木 久雄 長岡技術科学大学, 助教授 (50142237)
吉澤 雅幸 東京大学, 理学部, 助手 (60183993)
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| 研究期間 (年度) |
1989 – 1991
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| キーワード | 電気光学効果 / 非線形光学効果 / 高分子 / ファブリ-ペロ-共振器 / マッハ・ツェンダ-型干渉計 / 電場変調発光分光 / ポッケルス効果 / カ-効果 |
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| 研究概要 |
本研究の目的は、大きい非線形光学係数や電気光学係数を持った物質の探索のための計測法を確立し、電気光学係数と分子構造・電子状態や結晶構造との関連を調べ、光変調器、変向性結合器、光スイッチなどへ応用可能な有機物質の探索を行なうことである。
本研究で開発した測定法は、電気光学係数の実部と虚部とを同時に極めて高感度に測定することが可能な新しい方法である。この方法では、試料薄膜の両面に導電性薄膜を蒸着してファブリ-ペロ-共振器を構成する。測定の精度を向上させるにはファブリ-・ペロ-共振器のフィネスを向上させる必要がある。試料薄膜の平行・平滑度を向上させるために試料薄膜作製用蒸着装置の製作を行なった。また、共振器の多重干渉による複雑な信号を解析するためのプログラムを開発した。さらに、マッハ・ツェンダ-干渉計を用いた新しい測定法を開発した。この測定法では、試料の平行性や平面性の影響が小さく、しかも2次の電気光学定数の実部と虚部をよく分離することができ、この測定法の有用性が明らかとなった。しかし、光源の単色性や空間的コヒ-レンスに対する要求が厳しいため、干渉計の振動・熱揺動等によるマッハ・ツェンダ-型干渉計の光路長の変化を補償する圧電素子を用いたフィ-ドバック機構の開発を行なった。
これらの測定法を、ジエチルアミノニトロスチルベン(DEANS)の薄膜単結晶やDEANSをド-プしたポリカ-ボネ-ト薄膜、高分子薄膜、ポリジアセチレン(PDAー3BCMU)等に応用して電気光学定数の波長依存性を測定し、それらの機構を調べた。また、作製した電気光学効果測定装置を利用して、異なる形状の試料の電気光学定数の測定や、電場変調吸収・反射分光、電場変調発光分光も行った。
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