| 研究課題/領域番号 |
04555196
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| 研究機関 | 横浜国立大学 |
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研究代表者 |
仁木 克己 横浜国立大学, 工学部, 教授 (00017899)
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| 研究分担者 |
中川 英元 (株)中川アプライドリサーチ
相樂 隆正 横浜国立大学, 工学部, 助手 (20192594)
佐藤 寿邦 横浜国立大学, 工学部, 助教授 (80017920)
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| キーワード | 電極表面 / 吸着 / 単分子層 / 酸化還元反応 / 可視・紫外反射分光法 / 分子配向 |
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| 研究概要 |
可視・紫外反射分光法(ER法)は、分光法と電気化学側定法とを組み合わせた表面分光電気化学法で、種々の電極表面に形成された単分子層のキャラクタリゼーションおよび電子移動ダイナミックスの解析が可能である。本研究は、高感度な可視・紫外反射分光法(ER装置)を開発することを目的とした。
1.まず、現有装置の問題点を洗い出し、本研究で試作する装置の基本設計をまとめた。
2.偏光測定、周波数依存性測定などの手法を発展させると共に、高分子修飾電極に対する測定の有用性を現有装置を用いて実験的に確認した。
3.自作した従来の装置の検討結果をもとに、高性能高感度の測定装置を設計し、光学系など主な部分を発注し、試作装置を構築した。
4.現在、試作装置を用いて機能の検討を推進しており、その結果から更なる機能拡充(平成5年度)のための方針を検討中である。
5.本測定方法により、単分子吸着分子の非常の速い電子移動反応の速度を正確に測定できること、高分子膜内の種々の反応過程を分別して測定できることなどが本年度の研究で明らかになった。
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