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1.高分子表面の観察:エキシマレーザーによるアブレーション反応を利用して代表的な導電性高分子であるポリチオフェンの薄膜にパタ-ニングを行い、原子間力顕微鏡(AFM)によってパタ-ニングの形状を評価した。波長193mmのArFレーザーを用いることによってマイクロメーターオーダーの解像度のパタ-ニングができることが示された。また同様の実験を可溶性の導電性高分子であるポリアルキルチオフェン薄膜のパタ-ニングにも応用した。
2.有機薄膜の観察:(1)マイカ基板上に作成したアラキン酸単分子膜を空気中および水中でAFM観察した。水中では分子解像度のAFM像が得られたが、空気中では安定な像は得られなかった。これは、水中ではカンチレバ-と単分子膜との付着仕事が空気中よりも小さいためと解釈した。(2)ガラス基板上に作成したポリジアセチレンLB膜のA型からB型への相転移をAFMによって追跡した。相転移に伴って一層当たりの薄膜が減少することが示されたが、これは相転移によって分子のパッキングがより密になるためと解釈した。(3)ガラス基板のシランカップリング処理によって作成した種々の低エネルギー個体表面に対する付着力をAFMによって評価し、それぞれの個体表面が与える接触角と比較することにより、付着力と接触角との関係を議論した。
3.ポリペプチド分子の観察:磁場中でキャスト成形することによって配向させたポリ(γ-ベンジル-L-グルタメート)の薄膜を走査型トンネル顕微鏡(STM)によって観察した。その結果、分子の配向方向の異なる二つの領域の明瞭な境界が見つかった。
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