研究概要 |
昨年度開発したクロロフィルa蛍光高速動画像計測システムを,ピエゾによる精密高速Zスキャン可能な共焦点顕微鏡システムに組み込んだことで,Z方向の蛍光スライス画像が高速で計測できるようになった。このことで,比較的変化の速い現象の3D蛍光画像構築が細胞レベルで可能となった。また,計測面における光強度を計測できるようにし,共焦点顕微鏡システムのレーザー光強度をNDフィルターによって制御したことで,クロロフィル蛍光計測における飽和パルス法の適用が可能となった。さらに,飽和パルス法における飽和パルス光照射時の飽和継続期間中に高速Zスキャンさせることで,飽和パルス法によって取得できるパラメータであるΦPSIIおよびNPQの3D画像の構築ができるようになった。 このシステムを用いて,Z軸方向にずれのある孔辺細胞内のクロロフィルとその周辺の葉肉細胞内のクロロフィルのΦPSIIおよびNPQ画像の3D構築を行った。また,明期光条件を変えたときのこれらのパラメータを比較した。その結果,明期光強度が大きくなるほどΦPSIIは小さくなり,NPQは大きくなる傾向が見られた。これは,より強い光が照射されたときに熱放散活性が大きくなったことで,光合成電子伝達の量子収率が小さくなったためと考えられる。また,孔辺細胞内のクロロフィルのΦPSIIにくらべ,葉肉細胞内のクロロフィルのΦPSIIが常に大きかった。一方,NPQは両者に顕著な差は見られなかった。このことは,孔辺細胞内のクロロフィルと葉肉細胞内のクロロフィルの間に,受光様式の違いがあることを示唆していた。
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