| 研究概要 |
測定試料としてPrCu_2,PrCu_6,PrIn_3を,磁化測定用と電気抵抗測定用として,結晶軸をそろえてペアで用意した。この3つの試料を準備していたのは,相転移温度が約20mK,2mK,0.3mK以下と一桁ずつ異なっており,電子系の磁気相転移から核スピン系の磁気相転移の移り変わりも観測できるからである。この試料の結晶軸方向はX線より同定した。また,PrCu_6の結晶の欠陥や純度を評価する残留抵抗比(RRR)を測定した結果,63であった。この値はこの物質では非常に高く,純度のよいことがわかった。
このPrCu_6について,電気抵抗とAC帯磁率の同時測定を現在進行中で,転移温度近傍でAC帯磁率の実数成分と虚数成分が各々ピークを持つことが判明した。しかし,まだそのピークがちょうど転移温度に当たるのか,転移温度の直上で起こっているのかは不明である。というのは,スピン緩和時間が1日以上と非常に長く(Critical Slowing Down)完全な熱平衡状態がまだ実現できていないからである。しかし,電気抵抗の振る舞いと帯磁率の振る舞いは1対1に対応しており,以前の電気抵抗測定の解析に用いた,帯磁率の効果は基本的には正しかったことが判明した。
また,帯磁率測定と同時に磁化測定を行えることがわかったので,その結果も入れて,転移温度近傍の臨界現象の解明を行う予定である。
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