| 研究課題/領域番号 |
05453057
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
渡辺 巌 大阪大学, 理学部, 助教授 (50028239)
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| 研究分担者 |
文珠四郎 秀昭 大阪大学, 理学部, 助手 (80191071)
樋上 照男 大阪大学, 理学部, 助手 (50143821)
渡会 仁 大阪大学, 理学部, 教授 (30091771)
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| キーワード | EXAFS / 電子収率XAFS / 全反射XAFS / 溶液表面 / 溶媒和構造 / 臭化物イオン / ルビジウムイオン |
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| 研究概要 |
1.溶液表面・界面に存在する化学種の溶媒和構造に関する知識は溶媒抽出やLB膜の形成の解析などにとって非常に重要である。しかし、その知見を得るために使用できる研究法は限られている。本研究では今までにない新しい溶液表面の研究法として、イオンなどの溶媒和構造を与えるX線吸収微細構造解析法(EXAFS法)と表面分析に使用される全反射励起法を組み合わせた解析法を開発した。測定は高エネルギー物理学研究所放射光実験施設において行った。
2.照射X線を溶液表面に非常に浅い角度で入射させると表面で全反射を起こす。このときX線は溶液の最表面に存在する原子にのみ吸収される。X線を吸収した原子は緩和過程においてオージェ電子を放出するので、この電子が溶液表面を覆っているガスをイオン化し、ガスイオン化電流を与える。この様な原理の溶液表面研究法に対し、表題の名称を与えた。
3.水溶液表面に存在するイオンの溶媒和構造を研究した。対象陰イオンとして臭化物イオンを、陽イオンとしてルビジウムイオンを取り上げた。これらのイオンのそれぞれ対イオンとして界面活性なものを用いると極く低濃度のものでも強いXAFS信号を得ることができ本研究法が水溶液表面に敏感な分析法であることを確認した。
4.溶液表面に存在する上記の単原子イオンに対する溶媒の配位数、配位距離を溶液内部に存在するときのものと比較して議論することができた。
5.シンクロトロン放射光が強く偏光していることを利用して溶液表面のイオンの溶媒和構造の選択的配向についての情報を得ることができた。
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