| 研究課題/領域番号 |
05557114
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| 研究機関 | 京都工芸繊維大学 |
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研究代表者 |
金森 仁志 京都工芸繊維大学, 工芸学部, 教授 (70027770)
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| 研究分担者 |
佐藤 敏幸 島津製作所, 中央研究所, 主任
滝川 厚 大阪大学, 医学部, 助手 (80197227)
松本 政雄 大阪府立工業高等専門学校, 助教授 (50149944)
中森 伸行 京都工芸繊維大学, 工芸学部, 助手 (20107353)
山田 正良 京都工芸繊維大学, 工芸学部, 助教授 (70029320)
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| キーワード | X線撮像 / 被曝線量 / 半導体アレイ |
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| 研究概要 |
1.半導体アレイについて、不純物として、インジウムをドープしたものは、高線量に対する特性が悪いので、インジウムのかわりに塩素をドープした試料を作成して、高線量特性を改善した。その理由を究明している。
2.X線管から放射されるX線スペクトルについて、陽極での電子のエネルギー分布を考慮して理論計算を行った。
(1)連続X線成分については、従来のBirchモデルとTuckerモデルの適用範囲を明らかにしたので、今後の理論計算に役立つ。
(2)特性X線成分については、X線画像の均一性にとって最も重要な、X線強度のビームアングル依存性を説明できる新しいモデルを作った。
3.散乱X線と直接X線のスペクトルの分離測定を継続して行っている。散乱X線の比率を減少させるのに二つの方法がある。
(1)エアギャップ法については、管電圧70kV,被写真体厚5-20cmについて、基礎データを取得した。
(2)グリッド法については、スペクトルの分離測定法を確立させて、管電圧75kV,被写体厚20cmについて、基礎データを取得した。
4.散乱線含有率、画像のコントラスト、相対的被曝線量の関係を表示するグラフを提案し、使い方の例を示した。
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