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1994 年度 研究成果報告書概要

マイクロ波大気圧ヘリウムプラズマの生成とその極微量元素質量分析への応用

研究課題

研究課題/領域番号 05650817
研究種目

一般研究(C)

配分区分補助金
研究分野 工業分析化学
研究機関東洋大学

研究代表者

岡本 幸雄  東洋大学, 工学部, 教授 (90233387)

研究期間 (年度) 1993 – 1994
キーワード大気圧ヘリウムプラズマ / マイクロ波誘導ヘリウムプラズマ / Okamoto Cavity / マイクロ波誘導プラズマ質量分析法 / 極微量元素分析
研究概要

本研究者が先に研究開発したマイクロ波誘導窒素プラズマ用のOkamoto Cavityをベースに、マイクロ波電力(2.45GHz,≦1.5kW)を用いて、大気中でヘリウムプラズマ(He MIP)を安定に定常的に生成することに、世界で初めて成功し、その基本的な特性を、発光分光分析法と質量分析法を用いて明らかにした。
Okamoto Cavityは、扁平導波管(6mm×109.2mm)の中心部に円錐状の内導体と円筒状の外導体を同心状に設け、内導体の先端と外導体の先端部に設けたフロントプレートとの間に表面波を励起させ、電界強度の径方向分布が中心軸上で周辺部より弱いV字型になるように構成した。放電管は同心状の外管と内管とで構成し、中心軸上に設置した。外管にはプラズマ生成のためのプラズマガス(He)を接線方向から15 1/min以上、内管には試料を導入するためのキャリアガス(He)を導入することにより、分析に適したド-ナツ状のプラズマを、安定に生成できた。
このHe MIPの発光強度はフロントプレート前方10mmでHe I(587.6nm,23.0eV)が最も強く、次いでHe I(388.9nm,23.0eV),He I(667.8nm,23.1eV)の順となり、OH(306.4nm,4.1eV)はじめOI(777.6nm,10.7eV)なども微弱ながら存在した。
ガス試料としてアルゴン(イオン化電圧15.8eV)や窒素(15.5eV)を極微量(100ppm)導入したとき、Ar I(811.5nm)やN I(746.8nm)などが検出できた。従来のアルゴンプラズマに比べ、イオン化電圧の高い元素の分析ができるようになった。
一方、溶液試料(霧化して導入)を分析するとき、従来の同軸型のニュマティックネブライザーを用いると効率が低くプラズマも不安定になったが、超音波を用いたネブライザー(自作)を用いると、これらの問題は解決できた。
マイクロ波電力1kWのとき、励起温度は5,500K(Feの原子線の発光強度のボルツマンプロットから算定)、電子密度は10^<14>/cm^3(Sahaの式をベースにFeの原子線とイオン線の発光強度比から算出)が得られた。これらの値は現在世界最高である。
現在、このHe MIPを用いた質量分析法の構築を進めている。

  • 研究成果

    (10件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (10件)

  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Microwave-Induced Atmospheric Pressure Plasma Mass Spectrometry for Trace Element Analysis" 12th Symposium on Ion Beam Technology,Hosei Univ.,. 12. 1-8 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "High-Sensitivity Microwave-Induced Plasma Mass Spectrometry for Trace Element Analysis" J.Anal.At.Spectrom.9. 745-769 (1994)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] 岡本 幸雄: "極微量元素分析用マイクロ波誘導大気圧プラズマの特性" Hitachi Scientific Instrument News. 37. 3-7 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Helium Microwave-Induced Plasma at Atmospheric Pressure for Trace Element Analysis" J.Anal.At.Spectrom.(投稿予定). (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Microwave-Induced Helium Plasma Mass Spectromety for Trace Element Analysis" J.Anal.At.Spectrom.(投稿予定). (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Microwave-Induced Atmospheric Pressure Plasma Mass Spectromety for Trace Element Analysis" 12th Symposium on Ion Beam Technology, Hosei Univ.12. 1-8 (1993)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "High-Sensitivity Microwave-Induced Plasma Mass Spectromrtry for Trace Element Analysis" J.Anal.At.Spectrom.9,7. 745-769 (1994)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Caracterristics of Microwave-Induced Plasma at Atmospheric Pressure for Trace Element Analysis" Sceentific Instrument News. (Hitachi) , 37,2. 3-7 (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Helium Microwave-Induced Plasma at Atmospheric Pressure for Trace Element Analysis (to be submitted)" J.Anal.At.Spectrom.(to be submitted). (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [文献書誌] Yukio Okamoto: "Microwave-Induced Helium Plasma Mass Spectromety for Trace Element Analysis (to be submitted)" J.Anal.At.Spectrom.(to be submitted). (1995)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より

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公開日: 1996-04-15  

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