| 研究概要 |
多価イオンの分光学は天体物理,高温プラズマ診断,ビームフォイル,X線レーザーなどの分野で着実に基礎データをつみあげてきている.しかし,原子番号Zが大きくなると急にデータは少ないのが現状である.1つは発生源,1つは測定手段の問題である.多価イオン原子構造の研究では遷移エネルギーが1keV以下のいわゆる斜入射領域の測定も重要であり,この領域では微弱光検出が一つのネックになっている.我々は,電通大に建設されているEBISでの斜入射分光器で使用できる微弱光用多チャンネル検出器を試作し,動作試験を行うことを目的として本研究課題を遂行した。
MCP(Micro Channel Plate)は,当初G社の素子を考えていたが,要求仕様,価格面からの性能を判断し,急きょ国産品で円形のMCPアセンブリに変更した。蛍光板からの可視光パルスを,若干の損失を覚悟でレンズ結合で最終段受光素子に導くことにした。既設の10cmターボ分子ポンプ排気系を利用して真空チャンバーを増設し上記のMCPアセンブリをVUV検出器として組み立てた。既設の放電管を真空チャンバーに組み込み,VUVの照射光源として利用できるようにした。分光器の設計資料とするためにMCPからの放出ガス特性を測定した。MCPアセンブリの蛍光面からの可視光を光電子倍増管で受けて光子計数法で計数し,MCPが正常動作していることを確認し,動作特性の評価をはじめた。次年度は,VUV光によるMCPアセンブリ蛍光面からの可視光パルスを検出する方法を複数個試みる予定であるが,本年度は,とりあえずは波長方向(一次元)情報に限ればMOS型リニアイメージセンサが有望であるので,このための実効的な光子計数測定法に有利な信号処理制御回路の検討を進め,市販のボード等を利用してパソコン制御のプログラムの開発に着手した。
|
