• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

1994 年度 実績報告書

電子線プローブによるナノメーター精密構造解析

研究課題

研究課題/領域番号 06302022
研究種目

総合研究(A)

研究機関名古屋大学

研究代表者

田中 信夫  名古屋大学, 工学部, 助教授 (40126876)

研究分担者 八木 克道  東京工業大学, 理学部, 教授 (90016072)
石田 洋一  東京大学, 工学部, 教授 (60013108)
弘津 禎彦  大阪大学, 産業科学研究所, 教授 (70016525)
進藤 大輔  東北大学, 素材研究所, 教授 (20154396)
平賀 賢二  東北大学, 金属材料研究所, 教授 (30005912)
キーワードナノプローブ電子線 / 精密構造解析 / 原子クラスター / 表面・界面 / イメージングプレート / CCDカメラ
研究概要

本総合研究"電子線プローブによるナノメーター精密構造解析"の研究班では、空間、時間平均化された情報の壁のうちの一方、すなわち空間平均化の壁を取り除くために、(1)ナノメーターサイズの電子線を用いた逆空間での精密な構造解析および(2)平均操作の入らない実空間での高分解能電子顕微鏡観察を定量的に行うことによって、先端材料のナノメータースケールでの精密な構造解析法の開拓とそれを応用した成果を出すことを目的として研究を行った。
初年度(平成6年度)の具体的な研究課題としては、エネルギーフィルター、イメージングプレート及びスロースキャンCCDカメラを用いた電子線の定量測定法の確立、ナノメーター領域の精密解析法の確立、C_<60>、ナノチューブ、アトムクラスターに代表される新ナノ素材の作成とその構造の解明とシリコン等半導体の表面、界面、アモルファス合金の局所構造、セラミックス材料の格子欠陥などの非周期構造の精密解析などを、各研究分担者が行った。

  • 研究成果

    (8件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (8件)

  • [文献書誌] N.Tanaka et al.: "High spatial vesolution analysis of interface of semiconductor supevlatlice by using nm‐sized electron probe" Control of Semiconductor Interfaces. 1. 315-320 (1994)

  • [文献書誌] K.Harada et al.: "Realtime observation of the interaction between Flax lial and defects in superconductor by Loventz Microscopy" Jpn.J.Appl.Phys.33. 2534-2540 (1994)

  • [文献書誌] S.Iijima: "Carbon nanotube" MRS Bulletin. 10. 43-49 (1994)

  • [文献書誌] K.Hiraga et al.: "Structures of two types of Al‐Ni‐Co decagonal quasicrystals studued by HREM" Material Trans.JIM. 35. 657-662 (1994)

  • [文献書誌] D.Shindo et al.: "Quantitative HREM of a high Tc superconductor TlBaCuO with imaging platc" Ultramicrosc.54. 221-228 (1994)

  • [文献書誌] T.Suzuki et al.: "Strnctrue of high index clean Si surfoce studed by REM" phys stat sol. 146a. 243-249 (1994)

  • [文献書誌] N.Tanaka: "Metal/Semicondactor Interface ed.by A.Hiraki" オーム社, 400 (1995)

  • [文献書誌] 田中信夫: "表面分析図鑑(真下編)" 共立出版, 162 (1994)

URL: 

公開日: 1996-04-08   更新日: 2016-04-21  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi