| 研究課題/領域番号 |
06302022
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
田中 信夫 名古屋大学, 工学部, 助教授 (40126876)
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| 研究分担者 |
高柳 邦夫 東京工業大学, 総合理工研究科, 教授 (80016162)
八木 克道 東京工業大学, 理学部, 教授 (90016072)
弘津 禎彦 大阪大学, 産業科学研究所, 教授 (70016525)
進藤 大輔 東北大学, 素材工学研究所, 教授 (20154396)
平賀 賢二 東北大学, 金属材料研究所, 教授 (30005912)
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| キーワード | 電子線プローブ / CBED / HREM / Nano materials / 表・界面 / 分析電子顕微鏡 |
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| 研究概要 |
本総合研究"電子線プローブによるナノメーター精密構造解析"の研究班では、空間、時間平均化された情報の壁のうちの一方、すなわち空間平均化の壁を取り除くために、(1)ナノメーターサイズの電子線を用いた逆空間での精密な構造解析、および(2)平均操作の入らない実空間での高分解能電子顕微鏡観察を定量的に行うことによって、先端材料のナノメータースケールでの精密な構造解析法の開拓とそれを応用した成果を出すことを目的として研究を行った。
最終年度の平成8年度は、13名の代表者および研究分担者がコヒーレントナノビーム電子回折、電子線ホログラフィー、ナノ電子回折、準結晶の高分解能観察、新記録媒体(シメ-ジプレート)の特性評価、シリコンの表面構造研究、微粒子の表面構造研究、非晶質のナノビーム電子回折、アトムクラスターの物理、半導体の欠陥構造の光物性との関わり、カソードルミネッセンス、及び収束電子回折の新展開の各分担課題で精力的に研究を行った。
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