| 研究課題/領域番号 |
06452072
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| 研究機関 | 広島大学 |
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研究代表者 |
遠藤 一太 広島大学, 理学部, 教授 (90033894)
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| 研究分担者 |
中里 俊晴 東北大学, 理学部, 助手 (00172289)
高橋 徹 広島大学, 理学部, 助手 (50253050)
堀口 隆良 広島大学, 理学部, 助教授 (40033899)
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| キーワード | パラメトリックX線放射 / 共鳴トランジション放射 / 単色X線源 |
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| 研究概要 |
1.東北大学原子核理学研究施設電子線型加速器からの130MeV電子ビームを用いて、パラメトリックX線(PXR)の2次元角度分布の直接測定に成功した。その結果、厚い結晶の場合、中心角における窪みは現れないことがわかった。このことは、従来の理論では理解できず、むしろ我々の提唱しているモデル(インコヒーレントモデル)を支持している。しかし、PXR強度の絶対値は、いずれの式よりも大きいことがわかり、新たな、問題を提起している。
2.東大原子核研究所電子シンクロトロンを使用して、900MeV電子によるPXR強度の結晶厚さ依存性を測定した。結晶厚さは25ミクロンから500ミクロンの間の7種類である。その結果、薄い結晶からの強度はほぼ理論通りであるが、厚くなるとしだいに理論値より大きくなることがわかった。これもまた、我々のモデルの予測通りである。
3.さらに、900MeV電子ビームを使って、Si単結晶の薄い板を規則正しい間隔でならべた多層状標的からのX線を観測した。その結果、前方に出る放射をグラファイトで回折させて検出した強度の膜の枚数に比例するのに対し、多層状単結晶自身傾けたときにブラグ角方向に出てくるX線強度は、枚数の2乗に比例することを見出した。これは、周期性物質からの新しいタイプの放射現象である。その発生機構解明が興味深いだけでなく、PXRに比べて格段に大強度なので、新たな単色X線源の有力な候補となると思われる。
4.これらの結果は、広島大学で開かれた研究会で発表した。また、平成7年3月の物理学会総会において、3件の講演で発表する。さらに、130MeV電子からのPXR測定につては、学術雑誌に論文投稿中である。
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