| 研究課題/領域番号 |
06452418
|
|---|
| 研究機関 | 筑波大学 |
|---|
研究代表者 |
長 照二 筑波大学, 物理学系, 助教授 (80171958)
|
|---|
| 研究分担者 |
田中 茂利 福井工業高等専門学校, 教授, 学校長 (20025240)
山口 直洋 筑波大学, プラズマ研究センター/物理学系, 講師 (90158113)
近藤 真史 筑波大学, プラズマ研究センター/物理学系, 講師 (70222247)
|
|---|
| キーワード | 半導体X線検出器 / X線計測器 / プラズマX線 / シンクロトロン放射光 / 放射光モニター / X線トモグラフィー / 電位計測 / プラズマ電位 |
|---|
| 研究概要 |
本年度は、本研究の基礎となる、新型計測器設計・製作と、そのシンクロトロン放射光による基礎特性計測を行なった。即ち、
(i)我々が新たに見出したX線エネルギースペクトルの特殊形状と、プラズマ中の生成電位の相関に対し、我々の新理論新技術により開発・製作する「新開発X線半導体検出器」のいかなる感度特性により明確に電位測定ができるかを、詳細に計算・設計し、この検出器の製作を行なった。
(ii)検出器のエネルギー感度特性は、既に長年使用し、方法が確立しているシンクロトロン放射光を用いて確認し、本研究の基本である「計測器特性」を正確に押さた。(つくば市の文部省高エネルギー物理学研究所放射光施設を利用)。
以上の計測器により視線積分したX線データが得られる。視野中の最大電位をもつ空間に捕捉された電子は、視野中最大エネルギーの強いX線を輻射し、そのエネルギーは直ちに視線中の最大電位を与える。
(iii)更にX線空間分布をトモグラフィー法で計測し、実際に他の電位計測法である重イオンビームプローブ計測法、並びに我々が新たに開発した斜入射型多重メッシュタイプ静電イオンエネルギー計測器により直接計測した電位と、本X線計測より求めた電位がよく対応していることを、明らかにした。
(iv)本新方式では、他の方式では計測困難な、電位閉じ込め電子の、エネルギー分布函数の計測にも成功し、電位との相関、及び両者の比例則の検討を進めた。
|
