| 研究課題/領域番号 |
06555101
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| 研究種目 |
試験研究(B)
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
内藤 喜之 東京工業大学, 工学部, 教授 (70016335)
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| 研究分担者 |
横井 秀樹 東京工業大学, 工学部, 助手 (90251636)
安斎 弘樹 東京工業大学, 工学部, 助手 (80212661)
水本 哲弥 東京工業大学, 工学部, 助教授 (00174045)
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| キーワード | 電磁波 / 反射減衰量 / 電波吸収体 / 電波暗室 / フェライト / ゴムフェライト / フェライト格子吸収体 |
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| 研究概要 |
本研究は、電波吸収体の動作周波数帯域の拡大とW形電波吸収体の薄層化をはかることと、ならびに電波暗室の特性改善を目的としている。
電波吸収体の動作帯域の拡大については、30MHzから2000MHzまで20dB以上の反射減衰量をもつ薄形のN形電波吸収体の開発を目標としており、吸収体の薄層化については30MHz以上の全周波数において20dB以上の反射減衰量をもつW形電波吸収体の厚さを約65cm(従来の1/2)以下にすることを目標としている。また、電波暗室の特性改善を図るために、吸収体と電波暗室の特性の関係を明確化し、特性の優れた電波暗室を構築するために有効な設計理論の構築を目指している。
各課題について今年度得られた成果を要約すると次のようになる。
1.N形吸収体の広帯域化
フェライト格子吸収体とゴムフェライトを組み合わせた多層構造吸収体の特性を数値解析によって検討し、30MHz〜2100MHzで20dB以上の反射減衰量を有する広帯域電波吸収体が実現できることを明らかにした。またこの吸収体の実験用モデルを試作し、同軸管測定系で反射減衰特性を測定し、30〜1200MHzの周波数範囲で20dB以上の反射減衰量を得た。
2.W形吸収体の薄層化
W形吸収体が約56cmの厚さで実現できることをモデル実験によって実証した。
3.吸収体の特性と電波暗室の特性の関係の明確化
電波暗室の正確な特性解析に必要な斜入射時の吸収体反射減衰量特性を精度よく計算できる解析手法を開発した。さらに、実験結果と計算結果の対比によって解析手法の妥当性を実証した。
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