| 研究概要 |
1. 二次イオン質量分析計(SIMS)による鉱物の同位体比マッピングの作成とそれを岩石学に適用することを本邦で初めて実現した。更なる進展を図るため,総研A″SIMS岩石学″および一般研究A″SIMSによる鉱物の同位体比マッピング″を申請中である。
2. 電気石は,ホウ素同位体比が正確に分析でき,大陸地殻の形成を解明する際の,有益な鉱物である。ところが,この鉱物は,マグマから直接結晶化した初生鉱物か,マグマの固結後に結晶化した二次鉱物かの区別が困難であった。今回,電気石の化学組成から,初生鉱物か二次鉱物かの区別する方法を確立した。
3. 電気石の一結晶内でのホウ素同位体比の変化を明らかにした。
4. 従来のSIMSのホウ素同位体比分析(Chaussidon and Jambon,1994等)は,共存する鉄の影響を受け,正確な同位体比を求めることができなかった。二次イオンの発生について理論的な解明が未だできていないので,これを理論的に補正することはできない。そこで,測定方法を工夫することで,共存元素の影響を受けずに,正確に分析できる方法を確立することができた。
5. 電気石結晶中の同位体比と化学組成の変化マップを作成し,両者の累帯構造を1対1に対応させることで,精密な花崗岩成因論を論ずることができるようになった。その結果,現在入手できる花崗岩の化学組成は起源物質の違いを反映しており,花崗岩質マグマが上昇・冷却の途中で,周囲の岩石を取り込み,その化学組成を変化させるという日本人の好きな考え方は,ほとんどありえないか,あったとしても本質的でないことを明らかにすることができた。
6. 岩石の化学組成を明らかにするために,蛍光X線分析法による,より正確な分析手法の開発に成功した。
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