| 研究概要 |
アルドン酸として2-アミノ-D-グルコン酸を用い、アルドン酸-ホウ酸二元系、アルドン酸-金属イオン二元系、さらにアルドン酸-ホウ酸-金属イオン酸三系について、電位差滴定法により錯形成平衡を検討した。金属イオンとして、Ni(II)、Zn(II)、Cd(II)、Pb(II)イオンを用いたが、三元系錯体を形成したことによる安定化はCd(II)イオンが最大になることが明らかになった。これは、アルドン酸の立体配置が、ホウ酸と二元系錯体を形成することにより固定され、金属イオンのイオン半径を識別することができるようになったためと考えられる。さらにこの結果からCd(II)イオンとPb(II)イオンを比べると、2-アミノ-D-グルコン酸との二元系ではPb(II)イオンの方が安定に錯形成するが、ホウ酸を加えた三元系では、その安定度が逆転することがわかった。このような、三元系錯体を形成することにより出現する新たな安定性は、本研究で目的としている金属イオンの分離、濃縮への応用に有用であると考えられる。
オキソ酸としてホウ酸の代わりに五配位や六配位の構造が可能であるゲルマニウム酸を用いた場合も検討した。さらに、アルドン酸の代わりに、1,2位あるいは2,3位の水酸基でオキソ酸と錯形成可能なD-リボース-5ーリン酸を用いて検討した。これらの系についても、二元系および三元系錯体が安定に形成されることが明らかになった。
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